| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6-7页 |
| 主要符号表 | 第11-13页 |
| 符号缩写表 | 第13-14页 |
| 第1章 绪论 | 第14-25页 |
| 1.1 课题提出背景及意义 | 第14-15页 |
| 1.2 合成孔径聚焦技术概述 | 第15-16页 |
| 1.3 课题相关内容国内外研究进展 | 第16-24页 |
| 1.3.1 超声成像技术 | 第17-19页 |
| 1.3.2 合成孔径聚焦技术研究进展 | 第19-24页 |
| 1.4 论文主要研究内容及章节安排 | 第24-25页 |
| 第2章 超声相控阵成像物理模型基础 | 第25-41页 |
| 2.1 引言 | 第25页 |
| 2.2 超声声场特性表征 | 第25-26页 |
| 2.2.1 声压P | 第25页 |
| 2.2.2 声强I | 第25-26页 |
| 2.2.3 声阻抗Z | 第26页 |
| 2.3 超声相控阵发射声场物理模型 | 第26-34页 |
| 2.3.1 声场辐射原理 | 第26-30页 |
| 2.3.2 声压指向性正交实验 | 第30-34页 |
| 2.4 相控阵成像物理转换模型 | 第34-35页 |
| 2.5 超声相控阵数字成像模式转换 | 第35-39页 |
| 2.5.1 最近邻插值 | 第36-37页 |
| 2.5.2 双线性插值 | 第37-38页 |
| 2.5.3 双三次线性插值 | 第38页 |
| 2.5.4 邻近插值改进算法 | 第38-39页 |
| 2.6 本章小结 | 第39-41页 |
| 第3章 基于相关性的合成孔径超声聚焦算法成像 | 第41-57页 |
| 3.1 引言 | 第41页 |
| 3.2 基于相关性单缺陷点合成孔径超声聚焦算法 | 第41-43页 |
| 3.2.1 信号相关性分析 | 第41-42页 |
| 3.2.2 基于相关性单缺陷点合成孔径超声聚焦算法 | 第42-43页 |
| 3.3 基于相关性多缺陷点合成孔径超声聚焦算法 | 第43-51页 |
| 3.3.1 多缺陷点识别关键技术 | 第44页 |
| 3.3.2 波包分解原理 | 第44-50页 |
| 3.3.3 基于相关性多缺陷点合成孔径超声聚焦算法 | 第50-51页 |
| 3.4 仿真试验 | 第51-56页 |
| 3.5 本章小结 | 第56-57页 |
| 第4章 频域上的合成孔径聚焦 | 第57-73页 |
| 4.1 引言 | 第57页 |
| 4.2 超声编码激励成像系统 | 第57-60页 |
| 4.2.1 超声编码激励成像系统原理 | 第57-58页 |
| 4.2.2 线性调频发射信号 | 第58-59页 |
| 4.2.3 正交解调原理 | 第59-60页 |
| 4.3 基于距离-多普勒的合成孔径超声聚焦算法原理 | 第60-63页 |
| 4.3.1 基于距离-多普勒的合成孔径超声聚焦算法框架 | 第61页 |
| 4.3.2 距离-多普勒的合成孔径超声聚焦算法关键技术分析 | 第61-63页 |
| 4.4 超声相控阵检测频率信号的压缩与校正 | 第63-69页 |
| 4.4.1 调频信号的脉冲压缩 | 第63-66页 |
| 4.4.2 超声线性调频回波信号的距离徙动校正(RCMC) | 第66-69页 |
| 4.5 仿真试验 | 第69-72页 |
| 4.6 本章小结 | 第72-73页 |
| 第5章 试验研究 | 第73-83页 |
| 5.1 引言 | 第73页 |
| 5.2 SAFT试验平台设计与测试 | 第73-78页 |
| 5.2.1 试验平台介绍 | 第73页 |
| 5.2.2 实验数据处理 | 第73-75页 |
| 5.2.3 平台设计与测试 | 第75-78页 |
| 5.3 基于Field II的仿真平台设计与测试 | 第78-80页 |
| 5.3.1 Field II基本函数框架 | 第78-79页 |
| 5.3.2 基于Filed II的GUI程序框架及关键程序 | 第79页 |
| 5.3.3 GUI仿真界面测试 | 第79-80页 |
| 5.4 基于R-D算法的合成孔径平台设计与测试 | 第80-82页 |
| 5.4.1 R-D算法关键程序 | 第80-82页 |
| 5.4.2 R-D算法仿真界面测试 | 第82页 |
| 5.5 本章小结 | 第82-83页 |
| 结论与展望 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-87页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第87-88页 |
| 致谢 | 第88-89页 |
| 附件 | 第89页 |
