| 内容提要 | 第4-6页 |
| 中文摘要 | 第6-9页 |
| abstract | 第9-12页 |
| 第一章 绪论 | 第18-52页 |
| 1.1 热电材料概论 | 第18-19页 |
| 1.2 热电材料发展简史 | 第19-21页 |
| 1.3 热电效应及器件工作原理 | 第21-27页 |
| 1.3.1 热电效应 | 第21-24页 |
| 1.3.2 热电器件的工作原理及应用 | 第24-27页 |
| 1.4 热电输运参数 | 第27-30页 |
| 1.5 热电材料的研究进展 | 第30-35页 |
| 1.5.1 低温区热电材料 | 第31-32页 |
| 1.5.2 中温区热电材料 | 第32-34页 |
| 1.5.3 高温区热电材料 | 第34-35页 |
| 1.6 笼合物(Clathrates)热电材料的研究进展 | 第35-48页 |
| 1.6.1 Ⅰ-型笼合物的研究进展 | 第35-42页 |
| 1.6.2 Ⅱ-型笼合物的研究进展 | 第42-44页 |
| 1.6.3 Ⅲ-型笼合物的研究进展 | 第44-45页 |
| 1.6.4 Ⅷ-型笼合物的研究进展 | 第45-47页 |
| 1.6.5 Ⅸ-型笼合物的研究进展 | 第47-48页 |
| 1.7 本论文的研究意义及主要内容 | 第48-52页 |
| 1.7.1 本论文的研究目的 | 第48-49页 |
| 1.7.2 本论文的主要研究内容 | 第49-52页 |
| 第二章 热电材料制备方法与高压实验技术 | 第52-64页 |
| 2.1 热电材料的常压制备方法 | 第52-55页 |
| 2.1.1 微观合成方法 | 第53-54页 |
| 2.1.2 中尺度合成方法 | 第54页 |
| 2.1.3 宏观合成方法 | 第54-55页 |
| 2.2 高压合成技术 | 第55-64页 |
| 2.2.1 六面顶高压装置简介 | 第56-57页 |
| 2.2.2 压力、温度标定及调控 | 第57-60页 |
| 2.2.3 热电材料高温高压合成及性能表征 | 第60-64页 |
| 第三章 热电材料结构表征及性能测试 | 第64-72页 |
| 3.1 热电材料结构表征 | 第64-65页 |
| 3.1.1 样品相结构分析 | 第64页 |
| 3.1.2 结构精修 | 第64-65页 |
| 3.1.3 样品微观形貌分析 | 第65页 |
| 3.2 热电材料电学测试技术 | 第65-72页 |
| 3.2.1 Seebeck系数测试原理及设备 | 第65-67页 |
| 3.2.2 电阻率测试原理及设备 | 第67-68页 |
| 3.2.3 热电材料热学测试技术 | 第68-72页 |
| 第四章 框架元素掺杂对化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)热电性能的影响 | 第72-82页 |
| 4.1 引言 | 第72-73页 |
| 4.2 样品制备及性能表征 | 第73页 |
| 4.3 化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)相结构及微观结构分析 | 第73-78页 |
| 4.3.1 X射线衍射及成分分析 | 第73-75页 |
| 4.3.2 微观结构分析 | 第75-78页 |
| 4.4 框架元素掺杂对化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)热电性能的影响 | 第78-81页 |
| 4.4.1 框架元素掺杂对化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)电输运性能的影响 | 第78-79页 |
| 4.4.2 框架元素掺杂对化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)热输运性能的影响 | 第79-81页 |
| 4.4.3 框架元素掺杂对化合物Ba_8Cu_xGe_ySi_(46-x-y)ZT值的影响 | 第81页 |
| 4.5 本章小结 | 第81-82页 |
| 第五章 Al元素掺杂对化合物Ba_8Al_xSi_(46-x)结构与电学性能的影响 | 第82-90页 |
| 5.1 引言 | 第82页 |
| 5.2 样品制备及性能表征 | 第82-83页 |
| 5.3 化合物Ba_8Al_xSi_(46-x)相结构及微观结构分析 | 第83-86页 |
| 5.3.1 X射线衍射及成分分析 | 第83-85页 |
| 5.3.2 微观结构分析 | 第85-86页 |
| 5.4 结构精修与键长键角分析 | 第86-88页 |
| 5.5 Al元素掺杂对化合物Ba_8Al_xSi_(46-x)电输运性能的影响 | 第88-89页 |
| 5.6 本章小结 | 第89-90页 |
| 第六章 Eu元素填充掺杂对化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)热电性能的影响 | 第90-100页 |
| 6.1 引言 | 第90页 |
| 6.2 样品制备及性能表征 | 第90-91页 |
| 6.3 化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)相结构及微观结构分析 | 第91-95页 |
| 6.3.1 X射线衍射及成分分析 | 第91-93页 |
| 6.3.2 微观结构分析 | 第93-95页 |
| 6.4 Eu元素填充掺杂对化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)热电性能影响 | 第95-98页 |
| 6.4.1 Eu含量对化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)电输运性能的影响 | 第95-97页 |
| 6.4.2 Eu含量对化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)热输运性能的影响 | 第97-98页 |
| 6.4.3 Eu含量对化合物Ba_(8-x)Eu_xCu_6Si_(40)ZT值的影响 | 第98页 |
| 6.5 本章小结 | 第98-100页 |
| 第七章 In元素掺杂对化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)热电性能的影响 | 第100-110页 |
| 7.1 引言 | 第100页 |
| 7.2 样品制备及性能表征 | 第100-101页 |
| 7.3 化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)相结构及微观结构分析 | 第101-104页 |
| 7.3.1 X射线衍射及成分分析 | 第101-102页 |
| 7.3.2 微观结构分析 | 第102-104页 |
| 7.4 In元素掺杂对化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)热电性能的影响 | 第104-108页 |
| 7.4.1 In含量对化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)电输运性能的影响 | 第104-106页 |
| 7.4.2 In含量对化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)热输运性能的影响 | 第106-107页 |
| 7.4.3 In含量对化合物Ba_8Ga_(16)In_xGe_(30-x)ZT值的影响 | 第107-108页 |
| 7.5 本章小结 | 第108-110页 |
| 第八章 结论与展望 | 第110-114页 |
| 8.1 结论 | 第110-112页 |
| 8.2 展望 | 第112-114页 |
| 参考文献 | 第114-136页 |
| 个人简历 | 第136-138页 |
| 攻读博士期间发表学术论文 | 第138-140页 |
| 致谢 | 第140页 |
