铁酸铋电学性能的研究
| 摘要 | 第3-5页 |
| 英文摘要 | 第5-6页 |
| 第一章 绪论 | 第9-21页 |
| 1.1 多铁材料 | 第9-10页 |
| 1.2 钙钛矿的简介 | 第10-12页 |
| 1.3 铁酸铋的晶体结构 | 第12-13页 |
| 1.4 铁电性 | 第13-14页 |
| 1.5 压电性 | 第14-16页 |
| 1.6 畴和畴壁 | 第16-17页 |
| 1.7 铁酸铋陶瓷和薄膜的研究背景 | 第17-19页 |
| 1.8 本论文的研究目的和安排 | 第19-21页 |
| 第二章 实验仪器和设备 | 第21-31页 |
| 2.1 实验仪器 | 第21页 |
| 2.2 原子力显微镜(AFM) | 第21-22页 |
| 2.3 压电力显微镜(PFM) | 第22-23页 |
| 2.4 导电原子力显微镜子(CAFM) | 第23-24页 |
| 2.5 X-射线衍射仪器(XRD) | 第24-25页 |
| 2.6 扫描电子显微镜(SEM) | 第25-27页 |
| 2.7 Hot-press热压机 | 第27-28页 |
| 2.8 铁电测试仪 | 第28-30页 |
| 2.9 PPMS低温测试系统 | 第30-31页 |
| 第三章 铁酸铋陶瓷的性质测量 | 第31-48页 |
| 3.1 粉末样品制备 | 第31-32页 |
| 3.2 陶瓷样品烧结 | 第32-33页 |
| 3.3 样品的SEM及致密性对比 | 第33-39页 |
| 3.4 样品电极制作 | 第39-40页 |
| 3.5 介电测量 | 第40-42页 |
| 3.6 铁电性质 | 第42-44页 |
| 3.7 PFM测试结果 | 第44-46页 |
| 3.8 样品的压电性能 | 第46-47页 |
| 3.9 本章小结 | 第47-48页 |
| 第四章 铁酸铋外延薄膜的制备和研究 | 第48-59页 |
| 4.1 高分子辅助沉积法 | 第48-51页 |
| 4.2 薄膜样品的制备 | 第51-54页 |
| 4.3 薄膜样品的XRD及表面形貌 | 第54-57页 |
| 4.4 PFM测量 | 第57页 |
| 4.5 本章小结 | 第57-59页 |
| 第五章 结论与展望 | 第59-61页 |
| 参考文献 | 第61-68页 |
| 致谢 | 第68-71页 |
| 研究生期间发表的学术论文 | 第71-72页 |
