超宽带自动增益控制芯片设计
| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 缩略词表 | 第10-11页 |
| 第1章 绪论 | 第11-22页 |
| 1.1 AGC介绍及其应用 | 第11-12页 |
| 1.2 研究现状 | 第12-20页 |
| 1.2.1 宽带放大器结构 | 第14-16页 |
| 1.2.2 宽带级间匹配结构 | 第16-17页 |
| 1.2.3 宽带检幅器结构 | 第17-18页 |
| 1.2.4 环路快速建立结构 | 第18-20页 |
| 1.3 研究背景和思路 | 第20-21页 |
| 1.4 本文结构安排 | 第21-22页 |
| 第2章 纳米级Bi-CMOS工艺下的电路设计 | 第22-28页 |
| 2.1 Bi-CMOS工艺的优势 | 第22-23页 |
| 2.2 更小尺寸工艺的特点 | 第23-27页 |
| 2.2.1 特征频率 | 第24-25页 |
| 2.2.2 电源电压 | 第25页 |
| 2.2.3 功耗和散热 | 第25-26页 |
| 2.2.4 晶体管的匹配 | 第26页 |
| 2.2.5 晶体管噪声 | 第26-27页 |
| 2.3 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 自动增益控制放大器建模 | 第28-40页 |
| 3.1 自动增益控制基本原理 | 第28-29页 |
| 3.1.1 反馈型AGC基本结构 | 第28-29页 |
| 3.1.2 前馈型AGC基本结构 | 第29页 |
| 3.2 自动增益放大器理论建模 | 第29-33页 |
| 3.2.1 一阶理论建模 | 第30-32页 |
| 3.2.2 二阶理论建模 | 第32-33页 |
| 3.3 行为级建模 | 第33-39页 |
| 3.3.1 行为级模型简介 | 第33-34页 |
| 3.3.2 分析环路延时 | 第34-36页 |
| 3.3.3 其他设计参数 | 第36页 |
| 3.3.4 分析不同类型幅度检测器 | 第36-39页 |
| 3.4 本章小结 | 第39-40页 |
| 第4章 自动增益控制放大器电路设计 | 第40-51页 |
| 4.1 超宽带电路设计峰化技术 | 第40-44页 |
| 4.1.1 电感串联峰化 | 第41页 |
| 4.1.2 电感串联并联峰化 | 第41-42页 |
| 4.1.3 电感并联串联峰化 | 第42-43页 |
| 4.1.4 其他匹配方法 | 第43-44页 |
| 4.2 行波放大器 | 第44-45页 |
| 4.3 超宽带自动增益放大器关键技术 | 第45-50页 |
| 4.3.1 可变增益放大器技术 | 第45-49页 |
| 4.3.2 峰值检测器 | 第49-50页 |
| 4.4 本章小结 | 第50-51页 |
| 第5章 一种超宽带快速建立自动增益放大器 | 第51-81页 |
| 5.1 系统设计 | 第51-52页 |
| 5.2 可变增益放大器电路设计 | 第52-55页 |
| 5.2.1 可变增益放大器结构 | 第52-54页 |
| 5.2.2 选择电流源的考虑 | 第54-55页 |
| 5.2.3 噪声分析 | 第55页 |
| 5.3 后置放大器和直流失调消除电路 | 第55-57页 |
| 5.3.1 后置放大器 | 第55页 |
| 5.3.2 直流失调消除电路 | 第55-56页 |
| 5.3.3 级间互联的考虑 | 第56-57页 |
| 5.4 反馈回路的设计 | 第57-60页 |
| 5.4.1 峰值检测器的设计 | 第57-58页 |
| 5.4.2 比较器和积分器的设计 | 第58-59页 |
| 5.4.3 指数控制电压产生器的设计 | 第59-60页 |
| 5.5 温度补偿电路设计 | 第60-63页 |
| 5.6 系统前仿真 | 第63-66页 |
| 5.7 版图 | 第66-72页 |
| 5.7.1 版图设计 | 第66-67页 |
| 5.7.2 后仿真结果 | 第67-72页 |
| 5.8 测试 | 第72-80页 |
| 5.8.1 测试方法 | 第73页 |
| 5.8.2 测试结果及分析 | 第73-80页 |
| 5.8.3 测试总结 | 第80页 |
| 5.9 本章小结 | 第80-81页 |
| 第6章 总结和展望 | 第81-83页 |
| 6.1 总结 | 第81页 |
| 6.2 展望 | 第81-83页 |
| 致谢 | 第83-84页 |
| 参考文献 | 第84-89页 |
| 攻读硕士学位期间的研究成果 | 第89-90页 |
