致谢 | 第5-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
1 绪论 | 第12-18页 |
1.1 研究背景和意义 | 第12-13页 |
1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
1.3 本文主要工作 | 第16-18页 |
2 系统整体架构 | 第18-28页 |
2.1 引言 | 第18页 |
2.2 系统功能及指标 | 第18-19页 |
2.2.1 系统功能 | 第18-19页 |
2.2.2 系统指标 | 第19页 |
2.3 系统硬件方案 | 第19-21页 |
2.4 系统FPGA固件逻辑架构设计 | 第21-23页 |
2.5 系统设计难点 | 第23-26页 |
2.5.1 FLASH阵列模块与外围模块的交互设计 | 第23-25页 |
2.5.2 FLASH通用控制接口设计 | 第25-26页 |
2.5.3 FLASH容错算法的设计及实现 | 第26页 |
2.6 本章小结 | 第26-28页 |
3 高速数据采集功能的设计及实现 | 第28-56页 |
3.1 引言 | 第28页 |
3.2 高速ADC模块设计 | 第28-31页 |
3.2.1 ADC芯片介绍 | 第28-29页 |
3.2.2 ADC芯片控制固件逻辑设计 | 第29-31页 |
3.3 FLASH阵列模块设计 | 第31-47页 |
3.3.1 FLASH芯片介绍 | 第31-33页 |
3.3.2 FLASH编程固件逻辑设计 | 第33-42页 |
3.3.3 FLASH通用控制接口设计 | 第42-47页 |
3.4 USB3.0上传模块设计 | 第47-51页 |
3.4.1 USB3.0芯片介绍 | 第47-48页 |
3.4.2 USB3.0固件程序及上传固件逻辑设计 | 第48-51页 |
3.5 采集模式FLASH阵列模块与外围模块的交互设计 | 第51-55页 |
3.5.1 FLASH阵列模块与高速ADC模块的交互设计 | 第51-54页 |
3.5.2 FLASH阵列模块与USB3.0上传模块的交互设计 | 第54-55页 |
3.6 本章小结 | 第55-56页 |
4 高速数据回放功能的设计及实现 | 第56-70页 |
4.1 引言 | 第56页 |
4.2 USB3.0下载模块设计 | 第56-58页 |
4.3 高速DAC模块设计 | 第58-64页 |
4.3.1 DAC芯片介绍 | 第58-59页 |
4.3.2 DAC芯片控制固件逻辑设计 | 第59-63页 |
4.3.3 DAC时钟管理设计 | 第63-64页 |
4.4 回放模式FLASH阵列模块与外围模块的交互设计 | 第64-68页 |
4.4.1 FLASH阵列模块与USB3.0下载模块的交互设计 | 第64-65页 |
4.4.2 FLASH阵列模块与高速DAC模块的交互设计 | 第65-68页 |
4.5 本章小结 | 第68-70页 |
5 FLASH容错算法的设计及实现 | 第70-86页 |
5.1 引言 | 第70页 |
5.2 FLASH坏块管理问题描述 | 第70页 |
5.3 FLASH容错算法的设计 | 第70-78页 |
5.3.1 坏块检测设计 | 第71-72页 |
5.3.2 建立逻辑-物理地址映射表设计 | 第72-75页 |
5.3.3 动态更新设计 | 第75-78页 |
5.3.4 动态读取设计 | 第78页 |
5.4 FLASH容错算法的实现 | 第78-84页 |
5.4.1 坏块检测的实现 | 第78-80页 |
5.4.2 建立逻辑-物理地址映射表的实现 | 第80-81页 |
5.4.3 动态更新的实现 | 第81-84页 |
5.4.4 动态读取的实现 | 第84页 |
5.5 本章小结 | 第84-86页 |
6 系统测试 | 第86-104页 |
6.1 引言 | 第86页 |
6.2 系统测试方案 | 第86-87页 |
6.2.1 高速数据采集功能的测试方案 | 第86页 |
6.2.2 高速数据回放功能的测试方案 | 第86页 |
6.2.3 FLASH容错算法有效性测试方案 | 第86-87页 |
6.3 系统测试平台搭建 | 第87-90页 |
6.3.1 系统软件测试平台 | 第87-89页 |
6.3.2 系统软硬件测试平台整合 | 第89-90页 |
6.4 高速数据采集功能测试 | 第90-96页 |
6.4.1 高速ADC模块测试 | 第90-92页 |
6.4.2 采集模式FLASH阵列模块测试 | 第92-93页 |
6.4.3 USB3.0上传模块测试 | 第93-96页 |
6.5 高速数据回放功能测试 | 第96-100页 |
6.5.1 USB3.0下载模块测试 | 第96-97页 |
6.5.2 回放模式FLASH阵列模块测试 | 第97-99页 |
6.5.3 高速DAC模块测试 | 第99-100页 |
6.6 FLASH容错算法有效性测试 | 第100-103页 |
6.6.1 FLASH容错算法的实现过程测试 | 第100-101页 |
6.6.2 采集模式FLASH容错算法效果验证 | 第101-102页 |
6.6.3 回放模式FLASH容错算法效果验证 | 第102-103页 |
6.7 本章小结 | 第103-104页 |
7 总结和展望 | 第104-106页 |
7.1 本文小结 | 第104-105页 |
7.2 未来工作展望 | 第105-106页 |
参考文献 | 第106-110页 |
作者筒历 | 第110页 |