高精度X荧光仪检出限的测定技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 引言 | 第7-11页 |
| 1.1 选题依据及研究意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.3 研究内容 | 第10页 |
| 1.4 技术路线 | 第10页 |
| 本章小结 | 第10-11页 |
| 第2章 理论基础 | 第11-24页 |
| 2.1 X射线荧光分析的基本原理 | 第11-15页 |
| 2.1.1 特征X射线的产生及其主要特性 | 第11-13页 |
| 2.1.2 定性分析的物理基础 | 第13-14页 |
| 2.1.3 定量分析的基本公式 | 第14-15页 |
| 2.2 X射线荧光仪 | 第15-18页 |
| 2.2.1 X射线荧光仪的分类 | 第15页 |
| 2.2.2 X射线荧光仪的工作原理 | 第15-16页 |
| 2.2.3 便携式X射线荧光仪的构成 | 第16-18页 |
| 2.3 实验仪器的准备与检查 | 第18-23页 |
| 2.3.1 能量线性检查 | 第19-21页 |
| 2.3.2 仪器稳定性的检查 | 第21-23页 |
| 本章小结 | 第23-24页 |
| 第3章 X荧光仪检出限的测定方法及影响因素 | 第24-32页 |
| 3.1 检出限的定义和分类 | 第24-25页 |
| 3.2 仪器检出限的影响因素 | 第25-26页 |
| 3.3 仪器检出限的计算方法 | 第26-31页 |
| 本章小结 | 第31-32页 |
| 第4章 试验样品的制备 | 第32-37页 |
| 4.1 空白样及标准物质 | 第32页 |
| 4.2 标准物质的选取 | 第32-33页 |
| 4.3 试样的配制 | 第33-36页 |
| 本章小结 | 第36-37页 |
| 第5章 实验结果与分析 | 第37-56页 |
| 5.1 X光管工作条件的确定 | 第37-44页 |
| 5.1.1 中元素模式下的工作条件 | 第38-42页 |
| 5.1.2 重元素模式下的工作条件 | 第42-44页 |
| 5.2 样品均匀性检测 | 第44-45页 |
| 5.3 谱线分析 | 第45-46页 |
| 5.4 检出限的测定 | 第46-55页 |
| 5.4.1 最佳工作条件下的检出限 | 第46-48页 |
| 5.4.2 不同激发条件下的检出限 | 第48-55页 |
| 本章小结 | 第55-56页 |
| 结论 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 参考文献 | 第58-61页 |
| 攻读硕士学位期间取得学术成果 | 第61-62页 |
| 附录 | 第62-77页 |
