| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第14-28页 |
| 1.1 课题的研究背景 | 第14-15页 |
| 1.2 课题研究的目的及意义 | 第15-16页 |
| 1.3 课题的国内外研究现状分析 | 第16-25页 |
| 1.3.1 开关电源质量设计技术研究现状 | 第16-18页 |
| 1.3.2 电力电子系统电热耦合仿真技术研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3.3 性能退化建模技术的研究现状 | 第19-22页 |
| 1.3.4 产品质量一致性稳健优化设计技术的研究现状 | 第22-24页 |
| 1.3.5 存在的主要问题 | 第24-25页 |
| 1.4 本文的主要研究内容 | 第25-28页 |
| 第2章 开关电源的电热耦合建模与仿真分析 | 第28-52页 |
| 2.1 引言 | 第28页 |
| 2.2 开关电源电热耦合仿真策略 | 第28-30页 |
| 2.3 高频变压器等效模型及分布参数提取 | 第30-32页 |
| 2.3.1 高频变压器等效电路模型 | 第30-31页 |
| 2.3.2 高频变压器分布参数提取 | 第31-32页 |
| 2.4 功率半导体器件的电热耦合模型 | 第32-43页 |
| 2.4.1 功率肖特基二极管电热耦合模型 | 第33-39页 |
| 2.4.2 功率MOSFET的电热耦合模型 | 第39-43页 |
| 2.5 基于i SIGHT平台的开关电源电热耦合仿真 | 第43-47页 |
| 2.5.1 开关电源的电路仿真模型 | 第43-45页 |
| 2.5.2 开关电源的温度场仿真模型 | 第45-46页 |
| 2.5.3 利用i SIGHT实现开关电源电热仿真集成 | 第46-47页 |
| 2.6 电热耦合仿真的实验验证 | 第47-51页 |
| 2.6.1 电学特性仿真结果验证 | 第48-49页 |
| 2.6.2 热学特性仿真结果验证 | 第49-51页 |
| 2.7 本章小结 | 第51-52页 |
| 第3章 基于序贯近似建模的多元质量稳健优化设计 | 第52-80页 |
| 3.1 引言 | 第52页 |
| 3.2 确定影响初始质量波动的关键设计目标 | 第52-54页 |
| 3.3 隐式系统的多元质量灵敏度分析 | 第54-58页 |
| 3.3.1 隐式系统全局灵敏度 | 第54-55页 |
| 3.3.2 基于正交试验的多元质量灵敏度分析 | 第55-58页 |
| 3.4 多元质量特性的序贯近似建模 | 第58-70页 |
| 3.4.1 试验样本的构建 | 第59-61页 |
| 3.4.2 径向基函数近似模型的适用性分析 | 第61-66页 |
| 3.4.3 基于交互验证采样策略的序贯近似建模 | 第66-70页 |
| 3.5 基于近似模型的多元质量稳健优化设计 | 第70-78页 |
| 3.5.1 多元质量稳健优化设计准则 | 第70-71页 |
| 3.5.2 多元质量稳健优化设计建模 | 第71-73页 |
| 3.5.3 多元质量稳健寻优策略 | 第73-76页 |
| 3.5.4 优化结果实验验证 | 第76-78页 |
| 3.6 本章小结 | 第78-80页 |
| 第4章 基于敏感参数的元器件性能退化建模 | 第80-100页 |
| 4.1 引言 | 第80页 |
| 4.2 元器件敏感参数判别及退化建模思路 | 第80-83页 |
| 4.2.1 退化敏感参数的判别原则 | 第80-82页 |
| 4.2.2 性能退化建模思路 | 第82-83页 |
| 4.3 基于随机效应的性能退化建模 | 第83-92页 |
| 4.3.1 考虑测量误差的随机效应退化模型 | 第83-86页 |
| 4.3.2 基于EM迭代的模型参数估计 | 第86-88页 |
| 4.3.3 铝电解电容的性能退化模型 | 第88-92页 |
| 4.4 基于非线性Wiener过程的性能退化建模 | 第92-99页 |
| 4.4.1 非线性Wiener过程性能退化模型 | 第92-94页 |
| 4.4.2 基于MCMC仿真的模型参数估计 | 第94-95页 |
| 4.4.3 功率MOSFET的性能退化模型 | 第95-99页 |
| 4.5 本章小结 | 第99-100页 |
| 第5章 考虑性能退化的多元质量稳健优化设计 | 第100-123页 |
| 5.1 引言 | 第100页 |
| 5.2 时变系统性能可靠性预计 | 第100-106页 |
| 5.2.1 时变系统连续状态模型 | 第101-103页 |
| 5.2.2 时变极限性能状态方程 | 第103-104页 |
| 5.2.3 时变系统动态性能可靠度计算 | 第104-106页 |
| 5.3 针对开关电源输出特性退化的稳健优化设计 | 第106-114页 |
| 5.3.1 寿命周期质量损失准则 | 第107-109页 |
| 5.3.2 寿命周期质量损失建模 | 第109-110页 |
| 5.3.3 基于寿命周期质量损失的稳健优化设计建模 | 第110-111页 |
| 5.3.4 输出电流退化的实例验证 | 第111-114页 |
| 5.4 针对开关电源关键元器件退化的稳健优化设计 | 第114-121页 |
| 5.4.1 工作应力对元器件退化失效的影响 | 第115-116页 |
| 5.4.2 基于退化失效时间的稳健优化设计建模 | 第116-117页 |
| 5.4.3 功率MOSFET退化的实例验证 | 第117-121页 |
| 5.5 本章小结 | 第121-123页 |
| 结论 | 第123-125页 |
| 参考文献 | 第125-137页 |
| 攻读博士学位期间发表的学术论文 | 第137-140页 |
| 致谢 | 第140-141页 |
| 个人简历 | 第141页 |
