| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第12-23页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第12-13页 |
| 1.2 研究现状 | 第13-17页 |
| 1.2.1 PHM概述 | 第13页 |
| 1.2.2 PHM的国外研究现状 | 第13-15页 |
| 1.2.3 PHM的国内研究现状 | 第15-16页 |
| 1.2.4 PHM未来挑战 | 第16-17页 |
| 1.3 PHM技术的应用 | 第17-21页 |
| 1.3.1 机械设备 | 第17-18页 |
| 1.3.2 机电系统 | 第18页 |
| 1.3.3 元器件 | 第18-20页 |
| 1.3.4 关键集成电路 | 第20-21页 |
| 1.4 本文主要内容 | 第21-23页 |
| 第二章 基于旁路信号分析的故障预测技术 | 第23-31页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 旁路信号技术已有应用 | 第23-24页 |
| 2.3 发展基于旁路信号分析的PHM技术的必要性 | 第24-26页 |
| 2.3.1 现有的PHM技术 | 第24-25页 |
| 2.3.2 发展的必要性 | 第25-26页 |
| 2.4 基于旁路信号分析的电子元器件故障预测技术原理的研究 | 第26-30页 |
| 2.4.1 基于频谱响应（频响）分析的电子元器件故障预测技术原理 | 第27-29页 |
| 2.4.2 基于功耗分析的电子元器件故障预测技术原理 | 第29-30页 |
| 2.4.3 基于电源端噪声分析的电子元器件故障预测技术原理 | 第30页 |
| 2.5 小结 | 第30-31页 |
| 第三章 基于频响特性分析的PHM技术在数字芯片中的应用 | 第31-39页 |
| 3.1 样品及加速退化处理 | 第31-32页 |
| 3.1.1 SP3232E简介 | 第31页 |
| 3.1.2 加速退化处理 | 第31-32页 |
| 3.2 实验设计 | 第32-35页 |
| 3.2.1 实验平台 | 第32页 |
| 3.2.2 实验流程 | 第32-35页 |
| 3.3 结果与讨论 | 第35-38页 |
| 3.4 小结 | 第38-39页 |
| 第四章 基于功耗及电源噪声分析的PHM技术在模拟芯片中的应用 | 第39-51页 |
| 4.1 样品及加速退化处理 | 第39-40页 |
| 4.1.1 MP2365DN简介 | 第39页 |
| 4.1.2 加速退化处理 | 第39-40页 |
| 4.2 基于功耗分析的电子元器件故障预测技术实验设计 | 第40-46页 |
| 4.2.1 实验平台 | 第40页 |
| 4.2.2 实验流程 | 第40-43页 |
| 4.2.3 结果与讨论 | 第43-46页 |
| 4.3 基于电源噪声分析的电子元器件故障预测技术实验设计 | 第46-49页 |
| 4.3.1 实验平台 | 第46页 |
| 4.3.2 实验流程 | 第46-47页 |
| 4.3.3 实验结果与讨论 | 第47-49页 |
| 4.4 小结 | 第49-51页 |
| 第五章 总结与展望 | 第51-53页 |
| 5.1 本文总结 | 第51-52页 |
| 5.2 研究展望 | 第52-53页 |
| 参考文献 | 第53-56页 |
| 攻读硕士学位期间取得的研究成果 | 第56-57页 |
| 致谢 | 第57-58页 |
| 附件 | 第58页 |
