一种集成了光功率监测器的微环调制器研究
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第10-38页 |
| 1.1 引言 | 第10-12页 |
| 1.2 硅基微环器件波长锁定现状 | 第12-19页 |
| 1.3 光功率监测器介绍 | 第19-30页 |
| 1.3.1 锗硅光功率监测 | 第20-22页 |
| 1.3.2 双光子吸收光功率监测 | 第22-25页 |
| 1.3.3 表面态吸收光功率监测 | 第25-27页 |
| 1.3.4 缺陷态吸收光功率监测 | 第27-29页 |
| 1.3.5 比较与总结 | 第29-30页 |
| 1.4 本文主要结构和目的 | 第30-32页 |
| 1.5 参考文献 | 第32-38页 |
| 第2章 集成了光功率监测器的微环调制器设计 | 第38-50页 |
| 2.1 载流子耗尽型微环调制器原理 | 第38-44页 |
| 2.1.1 光学调制 | 第38页 |
| 2.1.2 等离子色散效应 | 第38-40页 |
| 2.1.3 载流子耗尽型 | 第40-42页 |
| 2.1.4 载流子耗尽型徽环调制器 | 第42-44页 |
| 2.2 集成了光功率监测器的微环调制器设计 | 第44-48页 |
| 2.2.1 设计理论依据 | 第44-45页 |
| 2.2.2 具体设计方案 | 第45-48页 |
| 2.3 本章小结 | 第48-49页 |
| 2.4 参考文献 | 第49-50页 |
| 第3章 掺杂补偿器件电学特性与高速性能实验研究 | 第50-62页 |
| 3.1 电学特性实验研究 | 第50-54页 |
| 3.1.1 直波导PN结电容测试 | 第50-52页 |
| 3.1.2 直波导暗电流测试 | 第52-54页 |
| 3.2 高速性能实验研究 | 第54-60页 |
| 3.2.1 眼图测试 | 第55-58页 |
| 3.2.2 误码率测试 | 第58-60页 |
| 3.3 本章小结 | 第60页 |
| 3.4 参考文献 | 第60-62页 |
| 第4章 基于缺陷态吸收的微环器件实验研究 | 第62-80页 |
| 4.1 调制区实验研究 | 第62-69页 |
| 4.2 监测区实验研究 | 第69-73页 |
| 4.2.1 监测区暗电流测试 | 第69-70页 |
| 4.2.2 监测区响应度测试 | 第70-73页 |
| 4.3 高速性能实验研究 | 第73-75页 |
| 4.4 波长锁定系统实验研究 | 第75-78页 |
| 4.5 本章小结 | 第78页 |
| 4.6 参考文献 | 第78-80页 |
| 第5章 工作总结与展望 | 第80-82页 |
| 5.1 工作总结 | 第80-81页 |
| 5.2 展望 | 第81-82页 |
| 作者简历及在学期间所取得的科研成果 | 第82页 |
