半导体激光器噪声测试虚拟系统的研究
| 第一章 前言 | 第8-11页 |
| 第二章 半导体激光器噪声特性 | 第11-24页 |
| 2.1 引言 | 第11页 |
| 2.2 半导体激光器的光噪声 | 第11-16页 |
| 2.3 半导体激光器电噪声 | 第16-23页 |
| 2.3.1 引言 | 第16页 |
| 2.3.2 电噪声的种类 | 第16-21页 |
| 2.3.3 电噪声对激光器可靠性估计 | 第21-23页 |
| 2.4 小结 | 第23-24页 |
| 第三章 半导体激光器噪声测量方法 | 第24-31页 |
| 3.1 直接测量法 | 第24-25页 |
| 3.2 互谱测量法 | 第25-27页 |
| 3.3 多通道测量法 | 第27页 |
| 3.4 干涉测量法 | 第27-29页 |
| 3.5 基于 PC机数字测量法 | 第29-30页 |
| 3.6 小结 | 第30-31页 |
| 第四章 半导体激光器噪声测试虚拟系统硬件部分 | 第31-48页 |
| 4.1 半导体激光器噪声测试虚拟系统组成框图 | 第31页 |
| 4.2 虚拟仪器 | 第31-35页 |
| 4.2.1 虚拟仪器的基本概念 | 第31-32页 |
| 4.2.2 虚拟仪器的特点 | 第32页 |
| 4.2.3 虚拟仪器的组成 | 第32-35页 |
| 4.3 微机数据采集系统概述 | 第35-36页 |
| 4.4 低噪声前置放大器 | 第36-37页 |
| 4.5 数据采集电路 | 第37-44页 |
| 4.6 测试系统中的抗干扰措施 | 第44-46页 |
| 4.7 小结 | 第46-48页 |
| 第五章 半导体激光器噪声测试虚拟系统软件部分 | 第48-68页 |
| 5.1 图形化编程语言 LabVIEW | 第49-50页 |
| 5.1.1 LabVIEW 概述 | 第49-50页 |
| 5.1.2 LabVIEW 的开发环境 | 第50页 |
| 5.2 频谱分析仪原理 | 第50-59页 |
| 5.2.1 离散傅氏变换和快速傅氏变换 | 第50-52页 |
| 5.2.2 取样波形 | 第52页 |
| 5.2.3 取样定理 | 第52-53页 |
| 5.2.4 调节测量带宽 | 第53-54页 |
| 5.2.5 泄漏 | 第54-55页 |
| 5.2.6 窗口函数 | 第55-59页 |
| 5.3 随机噪声的统计性质 | 第59-61页 |
| 5.3.1 功率谱密度 | 第60页 |
| 5.3.2 平均值、方差和标准偏差 | 第60-61页 |
| 5.4 本底噪声 | 第61-65页 |
| 5.4.1 平均 | 第62-63页 |
| 5.4.2 线性加权 | 第63页 |
| 5.4.3 指数加权 | 第63页 |
| 5.4.4 FFT 分析仪中的平均 | 第63-65页 |
| 5.5 虚拟 FFT 分析仪 | 第65-67页 |
| 5.6 小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-70页 |
| 参考文献 | 第70-73页 |
| 致谢 | 第73-74页 |
| 中文摘要 | 第74-77页 |
| 英文摘要 | 第77页 |
