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基于工业CT的扁平物体局部成像关键技术研究

摘要第4-7页
Abstract第7-10页
第一章 绪论第18-34页
    1.1 课题背景与意义第18-20页
    1.2 扁平物体X射线成像的国内外研究现状第20-22页
        1.2.1 基于CL的扁平物体成像第20-21页
        1.2.2 基于CT的扁平物体成像第21页
        1.2.3 总结第21-22页
    1.3 CT局部成像关键技术的国内外研究现状第22-30页
        1.3.1 几何校正算法第22-25页
        1.3.2 局部重建算法第25-28页
        1.3.3 图像重建的快速计算方法第28-30页
    1.4 论文的研究内容及结构安排第30-34页
第二章 CT原理及基础知识第34-46页
    2.1 CT系统组成及工作流程第34-35页
    2.2 CT的物理基础第35-36页
        2.2.1 X射线的产生、与物质相互作用及探测机制第35-36页
        2.2.2 X射线的衰减模型第36页
    2.3 CT局部成像的数学基础第36-43页
        2.3.1 几何校正的数学基础第36-38页
        2.3.2 局部重建算法的数学基础第38-43页
    2.4 CT的评价指标第43-44页
        2.4.1 MTF第43-44页
        2.4.2 MSE/RMSE第44页
        2.4.3 SNR第44页
        2.4.4 PSNR第44页
    2.5 本章小结第44-46页
第三章 圆轨迹CT的几何校正与扁平物体局部重建第46-68页
    3.1 圆轨迹扫描与FDK重建算法第46-48页
    3.2 基于区间划分的圆轨迹CT几何自校正算法第48-58页
        3.2.1 算法引入第48-50页
        3.2.2 基于区间划分的自校正算法理论第50-52页
        3.2.3 实验结果与讨论第52-58页
    3.3 扁平物体局部重建的LRPOC方法第58-66页
        3.3.1 方法引入第58-59页
        3.3.2 LRPOC方法理论第59-62页
        3.3.3 实验结果与讨论第62-66页
    3.4 本章小结第66-68页
第四章 半覆盖CT的几何校正与扁平物体局部重建第68-86页
    4.1 半覆盖扫描与HC-FDK重建算法第68-70页
    4.2 基于双椭圆参数的半覆盖CT几何校正算法第70-78页
        4.2.1 算法引入第70页
        4.2.2 基于双椭圆参数的几何校正算法理论第70-74页
        4.2.3 实验结果与讨论第74-78页
    4.3 扁平物体局部重建的f HC-BPF算法第78-85页
        4.3.1 算法引入第78-81页
        4.3.2 f HC-BPF算法理论第81-82页
        4.3.3 实验结果与讨论第82-85页
    4.4 本章小结第85-86页
第五章 螺旋CT的几何校正与扁平物体局部重建第86-110页
    5.1 螺旋轨迹扫描与H-FDK重建算法第86-87页
    5.2 基于升降轴分段与参数内插的螺旋CT几何校正算法第87-99页
        5.2.1 算法引入第87-90页
        5.2.2 基于升降轴分段与参数内插的几何校正算法理论第90-93页
        5.2.3 实验结果与讨论第93-99页
    5.3 扁平物体局部重建的H-DHB算法第99-108页
        5.3.1 算法引入第99-101页
        5.3.2 H-DHB算法理论第101-102页
        5.3.3 实验结果与讨论第102-108页
    5.4 本章小结第108-110页
第六章 扁平物体局部重建的快速计算第110-130页
    6.1 扁平物体最小重建数据量的计算方法第110-116页
        6.1.1 最小化重建数据量的方法原理第110-112页
        6.1.2 实验结果与讨论第112-116页
    6.2 基于遗传算法的反投影自适应计算方法第116-128页
        6.2.1 算法引入第116-118页
        6.2.2 基于遗传算法的反投影自适应计算理论第118-121页
        6.2.3 实验结果与讨论第121-128页
    6.3 本章小结第128-130页
第七章 结束语第130-134页
    7.1 全文总结第130-131页
    7.2 工作展望第131-134页
致谢第134-136页
参考文献第136-148页
作者简历第148-150页

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