| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第11-19页 |
| 1.1 研究背景与意义 | 第11-13页 |
| 1.1.1 变频器的发展 | 第11-12页 |
| 1.1.2 E2工业变频器制造过程简介 | 第12-13页 |
| 1.2 E2工业变频器介绍 | 第13-15页 |
| 1.2.1 E2系列工业变频器的性能表现 | 第13页 |
| 1.2.2 E2家族产品的典型应用案例 | 第13-15页 |
| 1.3 虚拟仪器技术 | 第15-17页 |
| 1.3.1 虚拟仪器与LabVIEW | 第15-16页 |
| 1.3.2 虚拟仪器技术的国内外发展及现状 | 第16页 |
| 1.3.3 虚拟仪器技术在检测系统中的应用 | 第16-17页 |
| 1.4 本文主要研究内容 | 第17-19页 |
| 第2章 E2工业变频器产品检测并行系统提出 | 第19-25页 |
| 2.1 E2工业变频器的产品检测思想 | 第19页 |
| 2.2 E2工业变频器产品检测系统中的通信 | 第19-21页 |
| 2.2.1 主控芯片STM32F 103R8T6介绍 | 第19-20页 |
| 2.2.2 主要通信方式介绍 | 第20-21页 |
| 2.3 E2工业变频器产品检测系统的检测内容 | 第21-23页 |
| 2.3.1 E2工业变频器结构性检测内容 | 第22页 |
| 2.3.2 E2工业变频器功能性检测内容 | 第22-23页 |
| 2.4 本章小结 | 第23-25页 |
| 第3章 产品检测的并行处理方式的研究 | 第25-35页 |
| 3.1 并行技术 | 第25-28页 |
| 3.1.1 并行处理与并行计算 | 第25-26页 |
| 3.1.2 并行技术中的进程与线程 | 第26-28页 |
| 3.2 LabVIEW中的并行处理方式 | 第28-32页 |
| 3.2.1 LabVIEW中的多线程处理 | 第28-30页 |
| 3.2.2 LabVIEW中的多处理器处理 | 第30-32页 |
| 3.3 本章小结 | 第32-35页 |
| 第4章 E2变频器产品检测图像采集方法实现 | 第35-41页 |
| 4.1 机器视觉技术 | 第35-37页 |
| 4.1.1 机器视觉介绍 | 第35-36页 |
| 4.1.2 阈值分割的原理与方法 | 第36-37页 |
| 4.2 E2变频器图像的采集与分析 | 第37-40页 |
| 4.2.1 NI视觉开发软件 | 第37-38页 |
| 4.2.2 E2工业变频器图像采集与分析的实现 | 第38-40页 |
| 4.3 本章小结 | 第40-41页 |
| 第5章 E2变频器产品检测并行系统的实现 | 第41-77页 |
| 5.1 E2变频器产品检测总体方案 | 第41-46页 |
| 5.1.1 E2变频器产品检测系统的整体结构 | 第41-43页 |
| 5.1.2 E2变频器产品检测系统的硬件选型 | 第43-46页 |
| 5.2 E2变频器产品检测硬件电路的实现 | 第46-58页 |
| 5.2.1 E2变频器结构性检测电路 | 第46-50页 |
| 5.2.2 E2变频器功能性检测电路 | 第50-58页 |
| 5.2.3 总体硬件电路 | 第58页 |
| 5.3 E2变频器产品检测并行主控软件的实现 | 第58-76页 |
| 5.3.1 主控软件总体结构 | 第58-59页 |
| 5.3.2 主控软件与变频器的通信子程序 | 第59-65页 |
| 5.3.3 数据采集卡在系统中的调用 | 第65-67页 |
| 5.3.4 E2变频器产品检测系统主控软件的设计 | 第67-74页 |
| 5.3.5 人机交换界面 | 第74-76页 |
| 5.3.6 故障代码设计 | 第76页 |
| 5.4 本章小结 | 第76-77页 |
| 第6章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 6.1 总结 | 第77-78页 |
| 6.2 展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 攻读硕士学位期间参与的项目 | 第85页 |