基于波束扫描的圆阵干涉仪测向技术研究
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第7-11页 |
| 1.1 圆阵干涉仪简介 | 第7-8页 |
| 1.2 国外研究及其应用 | 第8-9页 |
| 1.2.1 国外理论研究 | 第8页 |
| 1.2.2 国外应用 | 第8-9页 |
| 1.3 本文工作 | 第9-11页 |
| 第二章 圆阵干涉仪测向原理 | 第11-29页 |
| 2.1 引言 | 第11-13页 |
| 2.2 离散阵列单元 | 第13-14页 |
| 2.3 Butler矩阵馈电下的圆阵干涉仪 | 第14-28页 |
| 2.3.1 Butler矩阵简介 | 第14-15页 |
| 2.3.2 Butler矩阵馈电下的模式输出 | 第15-18页 |
| 2.3.3 全向单元天线时幅度抖动和工作带宽分析 | 第18-22页 |
| 2.3.4 指向性天线单元方向图的引入 | 第22-28页 |
| 2.4 圆阵干涉仪解模糊简介 | 第28-29页 |
| 第三章 波束扫描型圆阵干涉仪研究 | 第29-52页 |
| 3.1 波束扫描测向的意义 | 第29页 |
| 3.2 全向单元天线的波束扫描原理 | 第29-35页 |
| 3.2.1 定向波束形成原理 | 第29-31页 |
| 3.2.2 单元天线为全向天线仿真 | 第31-34页 |
| 3.2.3 定向天线波束形成仿真 | 第34-35页 |
| 3.3 定向波速通道不一致性误差影响分析 | 第35-40页 |
| 3.3.1 定向波束相位形成 | 第36-37页 |
| 3.3.2 定向波束通道不一致性分析 | 第37-40页 |
| 3.4 定向波束形成系统测向分析 | 第40-45页 |
| 3.4.1 定向测向系统构成 | 第40-43页 |
| 3.4.2 系统测向和通道不一致性构成的系统误差 | 第43-45页 |
| 3.5 工作带宽分析 | 第45-52页 |
| 3.5.1 全向单元天线工作带宽可用性分析 | 第45-49页 |
| 3.5.2 定向单元天线频率可用性分析 | 第49-52页 |
| 第四章 可控置零定向波束测向研究 | 第52-62页 |
| 4.1 波束可控制置零的意义 | 第52页 |
| 4.2 波束可控置零原理 | 第52-55页 |
| 4.3 波束可控置零波束测向研究 | 第55-58页 |
| 4.3.1 一个可控置零波束测向 | 第55-58页 |
| 4.3.2 两个可控置零波束研究 | 第58页 |
| 4.4 可控置零波束功率波束宽度分析 | 第58-62页 |
| 第五章 总结与展望 | 第62-64页 |
| 5.1 论文总结 | 第62页 |
| 5.2 展望 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
