二端器件智能测量适配器的研究与开发
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第6-15页 |
| 1.1 研究背景和意义 | 第6-8页 |
| 1.1.1 研究背景 | 第6-7页 |
| 1.1.2 研究意义 | 第7-8页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第8-11页 |
| 1.3 虚拟仪器发展趋势 | 第11-12页 |
| 1.4 本文研究内容 | 第12-13页 |
| 1.5 论文结构安排 | 第13-14页 |
| 1.6 本章小结 | 第14-15页 |
| 第2章 二端器件电性参数及测量模型 | 第15-28页 |
| 2.1 二端器件电性参数概述 | 第15页 |
| 2.2 相关参数基本定义 | 第15-18页 |
| 2.2.1 阻抗类元器件参数定义 | 第15-17页 |
| 2.2.2 二极管参数定义 | 第17-18页 |
| 2.3 主要二端器件的等效测量模型 | 第18-21页 |
| 2.3.1 电阻等效测量模型 | 第19页 |
| 2.3.2 电感等效测量模型 | 第19-20页 |
| 2.3.3 电容等效测量模型 | 第20页 |
| 2.3.4 二极管等效测量模型 | 第20-21页 |
| 2.4 二端器件参数测量方法 | 第21-27页 |
| 2.4.1 电阻、电感、电容测量方法 | 第21-26页 |
| 2.4.2 二极管测量原理 | 第26-27页 |
| 2.5 本章小结 | 第27-28页 |
| 第3章 适配器设计原理及相关技术 | 第28-37页 |
| 3.1 适配器设计原理 | 第28-30页 |
| 3.2 适配设计相关技术 | 第30-36页 |
| 3.2.1 SOPC技术概述 | 第30-31页 |
| 3.2.2 Nios II软核处理器 | 第31-32页 |
| 3.2.3 Avalon交换互连架构概述 | 第32-36页 |
| 3.2.4 Nios II自定义组件开发流程 | 第36页 |
| 3.3 本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 适配器硬件设计 | 第37-70页 |
| 4.1 Nios II系统设计 | 第37-60页 |
| 4.1.1 DDS模块的设计 | 第37-43页 |
| 4.1.2 采样控制模块的设计 | 第43-50页 |
| 4.1.3 Nios II处理器添加 | 第50-51页 |
| 4.1.4 存储器控制器模块添加 | 第51-54页 |
| 4.1.5 JTAG UART接口模块添加 | 第54-55页 |
| 4.1.6 UART接口核添加 | 第55-56页 |
| 4.1.7 System ID | 第56-58页 |
| 4.1.8 PLL模块 | 第58-59页 |
| 4.1.9 多路复用模块设计 | 第59-60页 |
| 4.2 外围电路设计 | 第60-69页 |
| 4.2.1 DA电路 | 第60-62页 |
| 4.2.2 低通滤波 | 第62-63页 |
| 4.2.3 线性光电隔离电路 | 第63-64页 |
| 4.2.4 采样时钟调理电路 | 第64-65页 |
| 4.2.5 AD转换电路 | 第65-69页 |
| 4.3 本章小结 | 第69-70页 |
| 第5章 适配器软件设计 | 第70-80页 |
| 5.1 Nios II系统软件开发工具 | 第70-71页 |
| 5.2 本系统的软件设计 | 第71-79页 |
| 5.2.1 系统总体软件结构 | 第71-72页 |
| 5.2.2 驱动程序开发 | 第72-74页 |
| 5.2.3 应用程序开发 | 第74-79页 |
| 5.3 本章小结 | 第79-80页 |
| 第6章 系统的测试和分析 | 第80-88页 |
| 6.1 DDS模块测试 | 第80-81页 |
| 6.2 适配器数据采样的测试 | 第81-82页 |
| 6.3 二端器件的测量 | 第82-87页 |
| 6.3.1 电阻测试 | 第82-84页 |
| 6.3.2 电容测试 | 第84-85页 |
| 6.3.3 电感测试 | 第85-87页 |
| 6.3.4 二极管测试 | 第87页 |
| 6.4 本章小结 | 第87-88页 |
| 第7章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 7.1 总结 | 第88页 |
| 7.2 展望 | 第88-90页 |
| 致谢 | 第90-91页 |
| 参考文献 | 第91-94页 |
| 附录 | 第94-96页 |
