摘要 | 第4-7页 |
Abstract | 第7-10页 |
第一章 前言 | 第13-25页 |
1.1 高压物理学发展简介 | 第13-14页 |
1.2 产生静高压的装置和技术 | 第14-18页 |
1.2.1 金刚石对顶砧(DAC)装置 | 第15-16页 |
1.2.2 封压垫片 | 第16页 |
1.2.3 压力标定方法 | 第16-17页 |
1.2.4 传压介质 | 第17-18页 |
1.3 高压电学研究的发展和应用 | 第18-22页 |
1.3.1 高压电学发展历程 | 第18-20页 |
1.3.2 高压电学的应用 | 第20-22页 |
1.4 论文选题的目的和意义 | 第22-23页 |
1.5 论文各部分的主要内容 | 第23-25页 |
第二章 高压原位电学参数测量方法和压砧上微电路集成方法 | 第25-40页 |
2.1 直流高压电学测量 | 第25-30页 |
2.1.1 Van der Pauw法电阻率测量 | 第25-27页 |
2.1.2 霍尔效应测量 | 第27-30页 |
2.2 高压原位交流阻抗测量 | 第30-33页 |
2.3 用于直流电学测量的电极的制备和样品组装 | 第33-38页 |
2.3.1 Van der Pauw法四电极的制备 | 第33-36页 |
2.3.2 绝缘垫片的制作和压机组装 | 第36-38页 |
2.4 用于交流电学测量的电极的制备和样品组装 | 第38-40页 |
第三章 高压下VO_2电学性质研究 | 第40-50页 |
3.1 VO_2的背景研究 | 第40-44页 |
3.2 高压下VO_2的电输运行为 | 第44-49页 |
3.2.1 VO_2高压直流电阻率测量 | 第44-45页 |
3.2.2 VO_2高压变温电阻率测量 | 第45-47页 |
3.2.3 VO_2高压原位霍尔效应测量 | 第47-49页 |
3.3 本章小结 | 第49-50页 |
第四章 高压下BaH_2电学性质研究 | 第50-66页 |
4.1 BaH_2背景研究 | 第50-53页 |
4.2 高压下BaH_2的电输运行为 | 第53-65页 |
4.2.1 BaH_2样品交流阻抗测量 | 第53-56页 |
4.2.2 压力对BaH_2样品中H~-离子传输性质的影响 | 第56-61页 |
4.2.3 BaH_2样品复模数M~*随压力的变化关系 | 第61-63页 |
4.2.4 压力对BaH_2样品介电性质的影响 | 第63-65页 |
4.3 本章小结 | 第65-66页 |
第五章 高压下KH_2PO4电学性质研究 | 第66-81页 |
5.1 KH_2PO4背景研究 | 第66-69页 |
5.2 高压下KDP的电输运行为 | 第69-79页 |
5.2.1 高压下KDP样品交流阻抗测量的Nyquist图和Bode图 | 第69-72页 |
5.2.2 压力对KDP样品中质子(H+)传输性质的影响 | 第72-74页 |
5.2.3 KDP样品界面效应和质子(H+)传输距离随压力的变化关系 | 第74-79页 |
5.3 本章小结 | 第79-81页 |
第六章 多壁碳纳米管/聚偏氟乙烯复合材料(MWCNT/PVDF复合材料)电学性质研究 | 第81-90页 |
6.1 MWCNT/PVDF复合材料背景研究 | 第81-82页 |
6.2 高压下MWCNT/PVDF复合材料的电输运行为 | 第82-88页 |
6.2.1 交流阻抗测量的Nyquist图 | 第82-83页 |
6.2.2 压力对MWCNT/PVDF复合材料中的离子导电过程和电子导电过程的影响 | 第83-86页 |
6.2.3 压力对MWCNT/PVDF复合材料中离子和电子导电份额的影响 | 第86-88页 |
6.3 本章小结 | 第88-90页 |
第七章 总结与展望 | 第90-93页 |
参考文献 | 第93-103页 |
作者简介及在学期间所取得的科研成果 | 第103-105页 |
致谢 | 第105页 |