| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第16-34页 |
| 1.1 有机薄膜晶体管简介 | 第16页 |
| 1.2 低伏有机薄膜晶体管 | 第16-32页 |
| 1.2.1 低伏有机薄膜晶体管的实现方法 | 第16-18页 |
| 1.2.2 低伏有机薄膜晶体管的绝缘层 | 第18-30页 |
| 1.2.3 低伏有机薄膜晶体管绝缘层的电学性能表征 | 第30-32页 |
| 1.3 低伏有机薄膜晶体管存在的问题及挑战 | 第32页 |
| 1.4 本论文有关低伏有机薄膜晶体管的工作内容 | 第32-34页 |
| 第二章 阳极氧化铝/自组装单分子层制备低伏有机薄膜晶体管及其在光传感中的应用 | 第34-47页 |
| 2.1 引言 | 第34-35页 |
| 2.2 实验 | 第35-37页 |
| 2.2.1 超光滑的铝薄膜的剥离 | 第35页 |
| 2.2.2 氧化铝绝缘层的制备 | 第35-36页 |
| 2.2.3 正十八烷基膦酸自组装单分子层的生长 | 第36页 |
| 2.2.4 器件的制作与测试 | 第36-37页 |
| 2.2.5 光响应测试 | 第37页 |
| 2.3 结果与讨论 | 第37-46页 |
| 2.3.1 超光滑表面铝薄膜的原子力显微镜图像和扫描电子显微镜表征 | 第37-38页 |
| 2.3.2 阳极氧化电流时间分析以及氧化铝表面形貌及厚度表征 | 第38-39页 |
| 2.3.3 氧化铝漏电性能表征及电容测试 | 第39-40页 |
| 2.3.4 基于DNTT小分子半导体低伏有机薄膜晶体管的电学性能表征 | 第40-42页 |
| 2.3.5 基于DNTT小分子低伏有机薄膜晶体管的光响应性能表征 | 第42-43页 |
| 2.3.6 基于PBIBDF-BT共轭聚合物低伏有机薄膜晶体管的电学性能表征 | 第43-45页 |
| 2.3.7 基于PBIBDF-BT共轭聚合物有机薄膜晶体管器件的光响应性能表征 | 第45-46页 |
| 2.4 本章小结 | 第46-47页 |
| 第三章 功能性单分子层的合成与表征及其在低伏有机薄膜晶体管中的应用 | 第47-63页 |
| 3.1 引言 | 第47-48页 |
| 3.2 实验 | 第48-50页 |
| 3.2.1 (6-叠氮基己基)膦酸的合成步骤 | 第48页 |
| 3.2.2 (6-叠氮基己基)膦酸及炔端基PVP在氧化铝表面的自组装生长流程图 | 第48-49页 |
| 3.2.3 (6-叠氮基己基)膦酸及炔端基PVP在氧化铝表面的自组装生长结构图 | 第49-50页 |
| 3.2.4 基于并五苯有机薄膜晶体管器件制作及电学性能表征 | 第50页 |
| 3.3 结果分析与讨论 | 第50-62页 |
| 3.3.1 原材料及合成产物的核磁共振氢谱图分析 | 第50-54页 |
| 3.3.2 自组装多层分子的接触角测试及X射线光电子能谱(XPS)分析 | 第54-57页 |
| 3.3.3 自组装多层分子的全反射-傅里叶红外光谱(ATR-FTIR)表征 | 第57-58页 |
| 3.3.4 功能性多分子层的原子力显微镜(AFM)的形貌表征 | 第58-60页 |
| 3.3.5 无机AlOx表面修饰功能性多分子层作为绝缘层的电容测试 | 第60页 |
| 3.3.6 基于并五苯小分子半导体低伏有机薄膜晶体管的电学性能表征 | 第60-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第四章 总结 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-75页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第75页 |
| 1) 发表的学术论文(含专利和软件著作权) | 第75页 |
