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X-CT高分辨率探测采集系统研制

中文摘要第3-4页
英文摘要第4-5页
1 绪论第8-14页
    1.1 课题研究背景第8-12页
        1.1.1 工业CT发展概况第8-9页
        1.1.2 工业CT的工作原理第9-10页
        1.1.3 工业CT探测采集系统国内外研制现状第10-12页
    1.2 课题研究意义第12页
    1.3 本论文的主要内容及安排第12-14页
2 探测采集系统总体方案设计第14-34页
    2.1 工业X-CT数据采集系统第14-17页
        2.1.1 X射线的阐述第14-15页
        2.1.2 工业X-CT检测原理第15-16页
        2.1.3 高能X-CT系统结构分析第16-17页
    2.2 系统功能要求及总体结构第17-18页
        2.2.1 探测采集系统要求第17页
        2.2.2 探测采集系统总体结构第17-18页
    2.3 探测与信号调理转换方案研究第18-29页
        2.3.1 工业CT射线源及数据采集方式第18-20页
        2.3.2 高能X射线探测器选取第20-23页
        2.3.3 信号转换器件选择第23-28页
        2.3.4 信号转换电路方案选择第28-29页
    2.4 采集控制模块方案研究第29-32页
    2.5 本章小结第32-34页
3 探测采集系统硬件开发实现第34-44页
    3.1 硬件总体结构第34-35页
    3.2 探测与信号调理模块硬件实现第35-39页
        3.2.1 探测模块第35-36页
        3.2.2 信号调理转换模块方案的硬件实现第36-39页
    3.3 采集控制模块硬件实现第39-41页
    3.4 电源模块第41-42页
    3.5 本章小结第42-44页
4 探测采集系统逻辑实现第44-56页
    4.1 硬件描述语言第44-46页
        4.1.1 概述第44-45页
        4.1.2 VHDL语言第45-46页
    4.2 系统逻辑设计框架第46-47页
    4.3 模块介绍第47-54页
        4.3.1 时钟模块第47页
        4.3.2 命令转换模块第47-49页
        4.3.3 命令解析模块第49-51页
        4.3.4 数据采集控制模块第51-52页
        4.3.5 数据存储模块第52-53页
        4.3.6 数据传输模块第53-54页
    4.4 本章小结第54-56页
5 系统调试第56-70页
    5.1 系统调试第56-62页
        5.1.1 系统硬件功能调试第56-60页
        5.1.2 系统联调第60-62页
    5.2 系统性能测试与数据分析第62-67页
        5.2.1 性能测试及数据分析第62-67页
        5.2.2 方案对比分析第67页
    5.3 系统应用第67-69页
    5.4 本章小结第69-70页
6 总结与展望第70-72页
    6.1 论文工作总结第70页
    6.2 项目展望第70-72页
致谢第72-74页
参考文献第74-77页

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