摘要 | 第5-7页 |
Abstract | 第7-8页 |
第一章 绪论 | 第12-23页 |
1.1 钙钛矿氧化物简介 | 第12-13页 |
1.2 压电性 | 第13-14页 |
1.3 铁磁三钙钛矿陶瓷 | 第14-15页 |
1.4 钙钛矿氧化物人工超晶格 | 第15-16页 |
1.5 本论文的研究工作 | 第16-17页 |
参考文献 | 第17-23页 |
第二章 制备工艺和表征方法 | 第23-32页 |
2.1 固相反应法制备陶瓷 | 第23-25页 |
2.1.1 粉料的制备 | 第23-24页 |
2.1.2 陶瓷的预烧和烧结 | 第24-25页 |
2.2 脉冲激光沉积制备外延薄膜 | 第25-27页 |
2.2.1 脉冲激光沉积技术概述 | 第25-26页 |
2.2.2 PLD的工艺特点 | 第26-27页 |
2.2.3 PLD制备薄膜的影响因素分析 | 第27页 |
2.3 表征测试方法 | 第27-31页 |
2.3.1 X射线衍射(X-ray diffraction,XRD) | 第27-28页 |
2.3.2 扫描电子显微镜(Scanning Electron Microscope,SEM) | 第28-29页 |
2.3.3 透射电子显微镜(Transmission Electron Microscopy,TEM) | 第29页 |
2.3.4 磁学性质表征 | 第29-30页 |
2.3.5 输运性质表征 | 第30-31页 |
参考文献 | 第31-32页 |
第三章 无铅压电陶瓷(1-x)Bi_(0.5)Na_(0.5)TiO_(3-x)BaSnO_3制备与性能测试 | 第32-45页 |
3.1 引言 | 第32-33页 |
3.2 (1-x)Bi_(0.5)Na_(0.5)TiO_(3-x)BaSnO_3陶瓷的制备 | 第33-34页 |
3.3 (1-x)Bi_(0.5)Na_(0.5)TiO_(3-x)BaSnO_3陶瓷的表征 | 第34-42页 |
3.3.1 XRD图谱分析 | 第34-36页 |
3.3.2 (1-x)Bi_(0.5)Na_(0.5)TiO_(3-x)BaSnO_3陶瓷SEM表征 | 第36-37页 |
3.3.3 (1-x)Bi_(0.5)Na_(0.5)TiO_(3-x)BaSnO_3陶瓷铁电性测试 | 第37-39页 |
3.3.4 压电性测试 | 第39-40页 |
3.3.5 相对介电常数ε_r和损耗因数tanδ的测量 | 第40-42页 |
3.4 本章小结 | 第42-43页 |
参考文献 | 第43-45页 |
第四章 室温铁磁性三钙钛矿陶瓷Sr_3CrFeMoO_9的制备及结构性能测试 | 第45-59页 |
4.1 引言 | 第45-47页 |
4.2 三钙钛矿陶瓷Sr_3CrFeMoO_9的制备 | 第47页 |
4.3 三钙钛矿陶瓷Sr_3CrFeMoO_9的表征 | 第47-54页 |
4.3.1 XRD相分析 | 第47-48页 |
4.3.2 微结构表征 | 第48-49页 |
4.3.3 离子价态分析 | 第49-50页 |
4.3.4 磁性测试分析 | 第50-53页 |
4.3.5 输运测试分析 | 第53-54页 |
4.4 本章小结 | 第54-55页 |
参考文献 | 第55-59页 |
第五章 La_(2/3)Ca_(1/3)MnO_3-SrRuO_3超晶格薄膜的制备及结构性能测试 | 第59-79页 |
5.1 引言 | 第59-60页 |
5.2 La_(2/3)Ca_(1/3)MnO_3-SrRuO_3超晶格薄膜的制备 | 第60-61页 |
5.3 La_(2/3)Ca_(1/3)MnO_3-SrRuO_3超晶格薄膜的实验数据分析 | 第61-76页 |
5.3.1 XRD图谱分析 | 第61-67页 |
5.3.2 TEM微结构分析 | 第67-69页 |
5.3.3 磁性数据分析 | 第69-75页 |
5.3.4 输运数据分析 | 第75-76页 |
5.4 本章小结 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-79页 |
第六章 结论 | 第79-81页 |
硕士期间发表论文 | 第81-83页 |
致谢 | 第83-84页 |