| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 主要符号对照表 | 第19-20页 |
| 第一章 绪论 | 第20-48页 |
| 1.1 τ-粲夸克能量区间的物理 | 第23-34页 |
| 1.1.1 粲偶素物理 | 第23-29页 |
| 1.1.2 τ物理 | 第29-32页 |
| 1.1.3 粲物理 | 第32-34页 |
| 1.2 粒子物理实验中的粒子鉴别方法 | 第34-36页 |
| 1.3 BESⅢ实验中的粒子鉴别 | 第36-48页 |
| 第二章 BESⅢ ETOF升级改造方案 | 第48-64页 |
| 2.1 北京谱仪Ⅲ端盖TOF探测器 | 第48-49页 |
| 2.2 ETOF升级的物理意义 | 第49-50页 |
| 2.3 BESⅢ ETOF的升级目标 | 第50-53页 |
| 2.4 ETOF升级的具体指标要求 | 第53-54页 |
| 2.5 ETOF升级的方案 | 第54-64页 |
| 2.5.1 端盖的设计布局 | 第54页 |
| 2.5.2 MRPC的结构设计 | 第54-55页 |
| 2.5.3 MRPC的密封气盒设计 | 第55-56页 |
| 2.5.4 前端电子学方案 | 第56-57页 |
| 2.5.5 后端电子学方案 | 第57-59页 |
| 2.5.6 BESⅢ ETOF数据获取系统 | 第59-60页 |
| 2.5.7 BESⅢ ETOF气体系统 | 第60-62页 |
| 2.5.8 BESⅢ ETOF气体系统 | 第62-64页 |
| 第三章 BESⅢ ETOF MRPC探测器的性能研究 | 第64-98页 |
| 3.1 MRPC基本工作原理 | 第64-70页 |
| 3.2 ETOF/MRPC束流测试 | 第70-92页 |
| 3.2.1 原始数据分析 | 第71-74页 |
| 3.2.2 时间和tot分布 | 第74-75页 |
| 3.2.3 读出条相对位置分布 | 第75页 |
| 3.2.4 时间分辨的分析 | 第75-89页 |
| 3.2.5 束流扫描结果 | 第89-92页 |
| 3.3 BESⅢ ETOF/MRPC量产 | 第92-98页 |
| 3.3.1 BESⅢ ETOFMRPC量产制作 | 第92-93页 |
| 3.3.2 MRPC性能批量检测 | 第93-98页 |
| 第四章 BESⅢ ETOF电子学系统测试 | 第98-106页 |
| 4.1 早期MRPC电子学相关设计研究 | 第98-101页 |
| 4.1.1 早期MRPC前放电路设计 | 第98-99页 |
| 4.1.2 前沿甄别和T-A效应 | 第99-100页 |
| 4.1.3 NINO ASIC芯片和TOT测量技术 | 第100-101页 |
| 4.2 BESⅢ ETOF电子学系统 | 第101-106页 |
| 4.2.1 ETOF电子学系统的相关测试 | 第103-106页 |
| 第五章 BESⅢ ETOF全系统宇宙线测试 | 第106-126页 |
| 5.1 宇宙线测试系统设计、组装和搭建 | 第106-108页 |
| 5.2 宇宙线测试实验数据分析 | 第108-120页 |
| 5.2.1 两个研究对象组合的系统 | 第109-113页 |
| 5.2.2 三个研究对象组合的系统 | 第113-116页 |
| 5.2.3 四个研究对象组合的系统 | 第116-120页 |
| 5.3 宇宙线测试的结果 | 第120-126页 |
| 第六章 BESⅢ ETOF系统全面升级 | 第126-152页 |
| 6.1 BESⅢ现场环境噪声测试 | 第126-128页 |
| 6.2 ETOF系统全面升级 | 第128-129页 |
| 6.3 MRPC样室在BESⅢ的离线刻度 | 第129-130页 |
| 6.4 MRPC样室在BESⅢ的性能研究 | 第130-138页 |
| 6.4.1 HPTDC处理信号前后沿的准确性 | 第130-133页 |
| 6.4.2 MRPC样室的原始数据分布 | 第133-136页 |
| 6.4.3 样室的MRPC刻度结果 | 第136页 |
| 6.4.4 MRPC样室的高压扫描和阈值扫描 | 第136-138页 |
| 6.5 ETOF全面升级之后的初步结果 | 第138-152页 |
| 6.5.1 粒子飞行时间的刻度 | 第145-152页 |
| 第七章 总结和展望 | 第152-154页 |
| 参考文献 | 第154-160页 |
| 在读期间的成果 | 第160-162页 |
| 致谢 | 第162-163页 |