| 摘要 | 第4-5页 |
| abstract | 第5-6页 |
| 第1章 绪论 | 第9-23页 |
| 1.1 引言 | 第9-10页 |
| 1.2 热障涂层概述 | 第10-16页 |
| 1.2.1 热障涂层的发展历程 | 第10-11页 |
| 1.2.2 热障涂层的体系结构与制备 | 第11-13页 |
| 1.2.3 热障涂层的主要失效因素及失效机制 | 第13-16页 |
| 1.3 热障涂层氧化失效的研究现状 | 第16-21页 |
| 1.3.1 热障涂层氧化失效的实验研究 | 第17-18页 |
| 1.3.2 热障涂层氧化失效的理论分析 | 第18-19页 |
| 1.3.3 热障涂层氧化失效的有限元计算 | 第19-21页 |
| 1.4 本文的选题依据与研究内容 | 第21-23页 |
| 第2章 考虑温度、氧分压、界面粗糙度的TGO生长模型 | 第23-34页 |
| 2.1 引言 | 第23页 |
| 2.2 热障涂层高温氧化的TGO生长模型 | 第23-33页 |
| 2.2.1 温度对TGO生长的影响 | 第26-29页 |
| 2.2.2 氧分压对TGO生长的影响 | 第29-31页 |
| 2.2.3 界面粗糙度对TGO生长的影响 | 第31-33页 |
| 2.3 本章小结 | 第33-34页 |
| 第3章 热障涂层高温氧化的力化耦合理论分析 | 第34-39页 |
| 3.1 引言 | 第34页 |
| 3.2 TGO厚度变化的控制方程 | 第34-36页 |
| 3.3 热障涂层高温氧化应力场的控制方程 | 第36-38页 |
| 3.4 弱形式 | 第38页 |
| 3.5 本章小结 | 第38-39页 |
| 第4章 热障涂层高温氧化的力化耦合有限元模拟 | 第39-51页 |
| 4.1 引言 | 第39页 |
| 4.2 力化耦合的有限元模型 | 第39-41页 |
| 4.2.1 几何模型的建立 | 第39-40页 |
| 4.2.2 网格划分 | 第40-41页 |
| 4.2.3 边界、初始及连续条件 | 第41页 |
| 4.3 高温下热障涂层力化耦合结果分析 | 第41-49页 |
| 4.3.1 TGO厚度演化规律 | 第41-45页 |
| 4.3.2 高温下热障涂层的生长应力 | 第45-49页 |
| 4.4 本章小结 | 第49-51页 |
| 第5章 总结与展望 | 第51-54页 |
| 5.1 工作总结 | 第51-52页 |
| 5.2 工作展望 | 第52-54页 |
| 参考文献 | 第54-61页 |
| 致谢 | 第61-62页 |
| 个人简介与攻读硕士学位期间发表的学术论文 | 第62页 |