| 摘要 | 第7-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第11-23页 |
| 1.1 铁电材料的基本概念 | 第11-14页 |
| 1.1.1 铁电体(Ferroelectric) | 第11页 |
| 1.1.2 铁电畴(Domain)与畴壁(Domain Boundary) | 第11页 |
| 1.1.3 自发极化(Spontaneous Polarization) | 第11-12页 |
| 1.1.4 电滞回线(Hysteresis Loop) | 第12页 |
| 1.1.5 居里温度(Curie Temperature) | 第12-13页 |
| 1.1.6 压电效应(Piezoelectric Effect) | 第13页 |
| 1.1.7 介电性(Dielectricity) | 第13页 |
| 1.1.8 铁电材料与热释电、压电和介电性之间的关系 | 第13-14页 |
| 1.2 铁电材料的发展历史 | 第14页 |
| 1.3 铁电薄膜材料及其应用 | 第14-15页 |
| 1.4 BiFeO_3-基薄膜材料 | 第15-20页 |
| 1.4.1 BiFeO_3的结构与性质 | 第16页 |
| 1.4.2 BiFeO_3-基薄膜存在主要问题 | 第16-17页 |
| 1.4.3 BiFeO_3-基薄膜的国内外研究现状 | 第17-20页 |
| 1.5 本课题的研究目的及意义 | 第20-21页 |
| 1.6 本课题的主要研究内容 | 第21-23页 |
| 第二章 实验设计与研究方法 | 第23-31页 |
| 2.1 实验原料和设备仪器 | 第23页 |
| 2.2 铁电薄膜的制备 | 第23-27页 |
| 2.2.1 铁电薄膜的制备工艺 | 第23-25页 |
| 2.2.2 前驱体溶液的制备 | 第25页 |
| 2.2.3 BiFeO_3-基薄膜的制备工艺流程 | 第25-27页 |
| 2.3 表征手段及仪器 | 第27-31页 |
| 2.3.1 X-射线衍射仪 | 第27-28页 |
| 2.3.2 X-射线光电子能谱仪 | 第28页 |
| 2.3.3 扫描电子显微镜 | 第28-29页 |
| 2.3.4 铁电性能测试 | 第29页 |
| 2.3.5 差示扫描量热仪器 | 第29页 |
| 2.3.6 红外吸收光谱仪 | 第29-31页 |
| 第三章 溶液浓度、酸碱度等对BiFeO_3-基薄膜的影响 | 第31-37页 |
| 3.1 引言 | 第31页 |
| 3.2 溶液浓度、酸碱度对BiFeO_3-基薄膜结构的影响 | 第31-34页 |
| 3.2.1 浓度1.0mol/L溶液酸碱度对不同衬底上薄膜结构的影响 | 第31-33页 |
| 3.2.2 浓度1.5mol/L溶液酸碱度对不同衬底上薄膜结构的影响 | 第33-34页 |
| 3.3 溶液浓度、酸碱度对ITO衬底上BiFeO_3-基薄膜结晶性影响 | 第34-35页 |
| 3.4 本章小结 | 第35-37页 |
| 第四章 热板温度对BiFeO_3-基薄膜的影响分析 | 第37-49页 |
| 4.1 引言 | 第37-38页 |
| 4.2 热板温度对BiFeO_3-基薄膜结构的影响 | 第38-40页 |
| 4.3 热板温度对BiFeO_3-基薄膜结晶性的影响 | 第40-47页 |
| 4.3.1 热板温度175℃下BiFeO_3-基薄膜的断面形貌分析 | 第41页 |
| 4.3.2 热板温度200℃下BiFeO_3-基薄膜的断面形貌分析 | 第41-42页 |
| 4.3.3 热板温度225℃下BiFeO_3-基薄膜的断面形貌分析 | 第42-43页 |
| 4.3.4 热板温度250℃下BiFeO_3-基薄膜的断面形貌分析 | 第43-44页 |
| 4.3.5 热板温度275℃下BiFeO_3-基薄膜的断面形貌分析 | 第44-45页 |
| 4.3.6 热板温度275℃下BiFeO_3-基薄膜的表面形貌分析 | 第45-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第五章 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜的制备及性能探究 | 第49-61页 |
| 5.1 引言 | 第49-50页 |
| 5.2 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜存在的问题 | 第50页 |
| 5.3 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜前驱体溶液的分组制备及探究 | 第50-51页 |
| 5.4 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜前驱体溶液的沉淀物测试与分析 | 第51-54页 |
| 5.4.1 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜前驱体溶液沉淀物的XRD-EDS测试 | 第51-52页 |
| 5.4.2 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜前驱体溶液的红外吸收测试 | 第52-53页 |
| 5.4.3 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜前驱体溶液悬浮液的DSC测试 | 第53-54页 |
| 5.5 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜稳定前驱体溶液的研究 | 第54-59页 |
| 5.5.1 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜的结构分析 | 第54-56页 |
| 5.5.2 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜的断面形貌图 | 第56-57页 |
| 5.5.3 Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3厚膜电学性能测试 | 第57-59页 |
| 5.6 本章小结 | 第59-61页 |
| 第六章 退火温度对Al片上制备的Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的影响 | 第61-73页 |
| 6.1 退火温度对Al片上Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜结构的影响 | 第61-62页 |
| 6.2 不同退火温度下Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的表面形貌图 | 第62-63页 |
| 6.3 退火温度对Al片上Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜铁电性的影响 | 第63-69页 |
| 6.3.1 475℃退火不同频率下测得的Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的铁电性能 | 第63-64页 |
| 6.3.2 500℃退火不同频率下测得的Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的铁电性能 | 第64-65页 |
| 6.3.3 525℃退火不同频率下测得的Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的铁电性能 | 第65-66页 |
| 6.3.4 550℃退火不同频率下测得的Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜的铁电性能 | 第66-68页 |
| 6.3.5 不同退火温度下Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜铁电性能整体分析 | 第68-69页 |
| 6.4 退火温度对Al片上Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3薄膜漏电性能的影响 | 第69-70页 |
| 6.5 退火温度对Al片上Bi_(0.9)La_(0.1)FeO_3介电性的影响 | 第70-71页 |
| 6.6 本章小结 | 第71-73页 |
| 第七章 结论与展望 | 第73-75页 |
| 7.1 主要结论 | 第73-74页 |
| 7.2 主要创新点 | 第74页 |
| 7.3 工作展望 | 第74-75页 |
| 参考文献 | 第75-83页 |
| 致谢 | 第83-85页 |
| 附录 | 第85页 |
