摘要 | 第4-5页 |
ABSTRACT | 第5页 |
第一章 绪论 | 第8-14页 |
1.1 无损检测技术的发展 | 第8-10页 |
1.1.1 超声检测 | 第8-9页 |
1.1.2 射线检测 | 第9页 |
1.1.3 红外热像检测 | 第9页 |
1.1.4 激光散斑干涉 | 第9页 |
1.1.5 电磁涡流无损检测 | 第9-10页 |
1.2 电磁涡流无损检测技术现状分析 | 第10-11页 |
1.3 提离噪声问题及相位法研究概况 | 第11页 |
1.4 基于磁阻传感器的电涡流检测系统设计方法发展概况 | 第11-12页 |
1.5 本文创新点及结构安排 | 第12-14页 |
第二章 电磁涡流无损检测基本原理 | 第14-28页 |
2.1 电磁场基本理论 | 第14-21页 |
2.1.1 麦克斯韦方程组 | 第14-15页 |
2.1.2 扩散方程 | 第15-16页 |
2.1.3 Dodd-Deeds方法 | 第16-21页 |
2.2 电涡流无损检测系统的等效变压器模型 | 第21-28页 |
2.2.1 等效变压器模型 | 第21-26页 |
2.2.2 有限元仿真方法 | 第26-28页 |
第三章 电磁涡流无损检测的相轨迹方法 | 第28-40页 |
3.1 磁通密度的相位及其与提离高度的关系 | 第28-30页 |
3.2 检测系统的有限元建模 | 第30-33页 |
3.2.1 建立几何模型 | 第31页 |
3.2.2 定义材料属性 | 第31-32页 |
3.2.3 定义物理场 | 第32页 |
3.2.4 网格剖分 | 第32页 |
3.2.5 求解 | 第32页 |
3.2.6 获取数据 | 第32-33页 |
3.3 仿真数据的相位分析 | 第33-36页 |
3.4 相轨迹法对金属材料缺陷的辨识 | 第36-40页 |
3.4.1 表面缺陷检测 | 第36-37页 |
3.4.2 亚表面缺陷检测 | 第37-38页 |
3.4.3 内部缺陷检测 | 第38-40页 |
第四章 多频激励下涡流场相轨迹检测方法研究 | 第40-44页 |
4.1 多频激励下的空间磁场相轨迹分布规律 | 第40-42页 |
4.2 多频激励下的缺陷深度识别 | 第42-44页 |
第五章 实验系统设计及结果分析 | 第44-54页 |
5.1 实验系统设计 | 第44-50页 |
5.1.1 激励 | 第44-47页 |
5.1.2 测量 | 第47-49页 |
5.1.3 数据采集及处理 | 第49-50页 |
5.2 基于相轨迹方法的实验设计结果分析 | 第50-51页 |
5.3 多频激励数据分析结果 | 第51-54页 |
第六章 总结与展望 | 第54-56页 |
6.1 总结 | 第54-55页 |
6.2 展望 | 第55-56页 |
参考文献 | 第56-60页 |
发表论文及参加科研情况 | 第60-62页 |
致谢 | 第62页 |