| 摘要 | 第5-7页 |
| Abstract | 第7-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-40页 |
| 1.1 引言 | 第12-13页 |
| 1.2 X射线与物质的相互作用 | 第13-17页 |
| 1.3 X射线泽尼克相位衬度显微镜 | 第17-26页 |
| 1.3.1 X射线泽尼克相衬显微镜的原理 | 第18-24页 |
| 1.3.2 X射线泽尼克相衬显微镜的应用及发展 | 第24-26页 |
| 1.4 X射线光栅干涉仪相位衬度成像 | 第26-35页 |
| 1.4.1 X射线Talbot-Lau光栅干涉仪 | 第26-30页 |
| 1.4.2 相位步进信息分离方法 | 第30-32页 |
| 1.4.3 X射线光栅干涉仪相衬成像方法的发展 | 第32-35页 |
| 1.5 X射线光栅投影条纹成像方法 | 第35-38页 |
| 1.6 本论文研究内容 | 第38-40页 |
| 第二章 合肥实验平台研制 | 第40-52页 |
| 2.1 实验平台物理设计 | 第40-44页 |
| 2.2 实验平台构建 | 第44-45页 |
| 2.3 实验操作流程 | 第45-49页 |
| 2.4 有机玻璃棒实验 | 第49-51页 |
| 2.5 本章小结 | 第51-52页 |
| 第三章 实验数据处理 | 第52-68页 |
| 3.1 CT重建算法 | 第52-55页 |
| 3.2 投影数据校正 | 第55-62页 |
| 3.2.1 CT转轴校正 | 第55-57页 |
| 3.2.2 环型伪影 | 第57-59页 |
| 3.2.3 光源漂移 | 第59-62页 |
| 3.3 数据处理软件:OpenPCI | 第62-66页 |
| 3.3.1 软件结构介绍 | 第62-64页 |
| 3.3.2 模块分析 | 第64-66页 |
| 3.4 本章小结 | 第66-68页 |
| 第四章 合肥实验平台成像质量分析 | 第68-80页 |
| 4.1 X射线光栅投影条纹灵敏度分析 | 第68-70页 |
| 4.1.1 灵敏度的定义 | 第68页 |
| 4.1.2 影响灵敏度的因素 | 第68-70页 |
| 4.2 吸收图像与折射图像的成像衬噪比(CNR)比较 | 第70-75页 |
| 4.2.1 ASR方法分离信息得到的吸收图像与相位图像信噪比比较: | 第71-73页 |
| 4.2.2 PS方法分离信息得到的吸收图像与相位图像衬噪比比较 | 第73页 |
| 4.2.3 相衬成像与吸收成像灵敏度对比 | 第73-75页 |
| 4.3 装置密度分辨分析 | 第75-79页 |
| 4.4 本章小结 | 第79-80页 |
| 第五章 相位衬度X射线元素分辨 | 第80-88页 |
| 5.1 吸收衬度X射线元素分辨 | 第80-81页 |
| 5.2 相位衬度X射线元素分辨基本原理 | 第81-82页 |
| 5.3 模拟计算 | 第82-85页 |
| 5.4 入射光子数密度与信噪比 | 第85-87页 |
| 5.5 本章小结 | 第87-88页 |
| 第六章 总结与展望 | 第88-90页 |
| 总结 | 第88-89页 |
| 展望 | 第89-90页 |
| 参考文献 | 第90-102页 |
| 致谢 | 第102-104页 |
| 攻读博士期间发表的学术论文 | 第104页 |
