摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第1章 绪论 | 第8-13页 |
·课题来源 | 第8页 |
·课题背景及意义 | 第8-9页 |
·国内外研究现状 | 第9-11页 |
·论文研究的主要内容 | 第11-13页 |
第2章 ZPW-2000R智能测试系统整体设计方案 | 第13-24页 |
·ZPW-2000R智能测试系统测试对象指标要求及分析 | 第13-15页 |
·ZPW-2000R无绝缘移频自动闭塞系统介绍 | 第13-14页 |
·ZPW-2000R移频自动闭塞系统要测试的关键模块 | 第14-15页 |
·各模块需要测试的参数及指标要求 | 第15页 |
·ZPW-2000R智能测试系统整体设计方案 | 第15-20页 |
·智能测试系统的功能需求分析 | 第15-16页 |
·智能测试系统整体设计方案 | 第16-17页 |
·上位机软件设计方案 | 第17-20页 |
·上位机软件开发环境 | 第20-22页 |
·Windows消息响应机制 | 第20-22页 |
·VC中MFC应用程序框架 | 第22页 |
·本章小结 | 第22-24页 |
第3章 智能测试系统上位机软件设计与实现 | 第24-62页 |
·数据库设计及实现 | 第24-32页 |
·Microsoft Access数据库 | 第24-25页 |
·数据库中数据表的设计 | 第25-27页 |
·访问数据库的程序实现 | 第27-32页 |
·系统登录与用户管理模块设计与实现 | 第32-35页 |
·系统登录模块实现 | 第32-33页 |
·用户管理模块实现 | 第33-34页 |
·界面美化——按钮XP效果的实现 | 第34-35页 |
·串口通讯模块设计与实现 | 第35-41页 |
·Windows环境下串口编程过程 | 第35-37页 |
·上下位机通讯协议的制定 | 第37-39页 |
·串口模块设计与实现 | 第39-41页 |
·数据处理模块实现 | 第41-51页 |
·数据处理模块总体设计 | 第41-43页 |
·轮询模块的实现 | 第43-48页 |
·接收器数据处理模块实现 | 第48-51页 |
·数据管理模块实现 | 第51-60页 |
·历史数据查询实现 | 第51-52页 |
·TeeChart控件在VC中的应用 | 第52-55页 |
·测试报表生成 | 第55-60页 |
·本章小结 | 第60-62页 |
第4章 智能测试系统辅助调试功能优化设计 | 第62-66页 |
·随机变量的正态分布 | 第62-63页 |
·参数极大似然估计 | 第63-64页 |
·利用正态分布优化电阻调试过程 | 第64-65页 |
·本章小结 | 第65-66页 |
第5章 软件系统整体的完善与调试 | 第66-75页 |
·工作者线程设计 | 第66-68页 |
·线程的创建及运行过程 | 第66-67页 |
·线程间的通信 | 第67-68页 |
·数据源自动注册 | 第68-69页 |
·软件系统加密设计 | 第69-71页 |
·智能测试系统整体调试 | 第71-74页 |
·上位机软件模拟调试 | 第71-72页 |
·上位机与下位机整机联调 | 第72-74页 |
·本章小结 | 第74-75页 |
结论 | 第75-76页 |
参考文献 | 第76-81页 |
致谢 | 第81页 |