超分辨率图像获取系统的研究
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-15页 |
| ·课题背景及其研究意义 | 第9页 |
| ·国内外发展现状 | 第9-13页 |
| ·国外超分辨率成像技术的发展现状 | 第9-13页 |
| ·国内超分辨率成像技术的发展现状 | 第13页 |
| ·本课题主要研究内容 | 第13-15页 |
| 第2章 非常规采样成像技术分析与比较 | 第15-35页 |
| ·水平减速模式采样技术 | 第15-17页 |
| ·采样原理 | 第15-16页 |
| ·仿真模拟实验 | 第16-17页 |
| ·45 度斜模式采样技术 | 第17-20页 |
| ·采样原理 | 第17-18页 |
| ·仿真模拟实验 | 第18-20页 |
| ·亚像元成像技术 | 第20-31页 |
| ·亚像元成像技术基本原理 | 第20-21页 |
| ·亚像元成像技术应用前提 | 第21-22页 |
| ·实现途径 | 第22-23页 |
| ·工作模式 | 第23-24页 |
| ·仿真模拟实验 | 第24-29页 |
| ·优点论证 | 第29-31页 |
| ·非常规采样法比较 | 第31-34页 |
| ·像质评价 | 第31-33页 |
| ·非常规采样法比较 | 第33-34页 |
| ·本章小结 | 第34-35页 |
| 第3章 超分辨率成像系统方案研究 | 第35-50页 |
| ·系统指标参数的确定 | 第35-36页 |
| ·系统的特性参数 | 第35页 |
| ·系统的技术指标 | 第35-36页 |
| ·光学系统结构形式的选择 | 第36-37页 |
| ·能量与信噪比的计算 | 第37-40页 |
| ·能量的计算 | 第37-39页 |
| ·信噪比的分析与计算 | 第39-40页 |
| ·光学系统相对孔径的确定 | 第40页 |
| ·相机的成像质量 | 第40-44页 |
| ·光学系统的MTF | 第41页 |
| ·亚像元成像系统的MTF | 第41-44页 |
| ·系统对工作环境的要求 | 第44-45页 |
| ·焦平面探测器的选择 | 第45-46页 |
| ·焦平面拼接方案 | 第46-49页 |
| ·TDI-CCD 介绍 | 第46-47页 |
| ·CCD 拼接技术 | 第47页 |
| ·CCD 视场拼接技术要求 | 第47-49页 |
| ·超分辨率成像系统参数的确定 | 第49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第4章 基于亚像元成像的光学系统设计与分析 | 第50-64页 |
| ·光学系统设计 | 第50-59页 |
| ·光学系统的初始结构计算 | 第50-57页 |
| ·优化后的光学系统 | 第57-58页 |
| ·光学系统的焦平面设计 | 第58-59页 |
| ·相机质量评价 | 第59-62页 |
| ·相机光学传递函数分析 | 第59-60页 |
| ·相机点列图及能量分布 | 第60-61页 |
| ·相机光学像差曲线分析 | 第61页 |
| ·光学系统点扩散函数分析 | 第61-62页 |
| ·相机质量公差分析 | 第62-63页 |
| ·本章小结 | 第63-64页 |
| 结论 | 第64-66页 |
| 参考文献 | 第66-71页 |
| 致谢 | 第71页 |
