硅微机械陀螺仪性能提升技术研究与试验
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-23页 |
1.1 引言 | 第11页 |
1.2 硅微陀螺研究概况 | 第11-14页 |
1.3 硅微陀螺测控电路研究状况 | 第14-19页 |
1.3.1 硅微陀螺仪接口电路 | 第14-17页 |
1.3.2 信号处理电路 | 第17-19页 |
1.4 课题研究背景及意义 | 第19-20页 |
1.5 课题来源及研究内容 | 第20-23页 |
1.5.1 课题来源 | 第20页 |
1.5.2 研究内容 | 第20-23页 |
第二章 硅微陀螺仪基本理论 | 第23-35页 |
2.1 引言 | 第23页 |
2.2 硅微陀螺仪基本工作原理 | 第23-28页 |
2.2.1 哥氏加速度 | 第23-24页 |
2.2.2 动力学模型 | 第24-27页 |
2.2.3 机械灵敏度及带宽 | 第27-28页 |
2.3 硅微陀螺仪驱动与检测方式 | 第28-32页 |
2.3.1 静电驱动原理 | 第28-30页 |
2.3.2 硅微陀螺仪电容检测 | 第30-32页 |
2.4 数字化开环检测硅微陀螺仪介绍 | 第32-33页 |
2.5 总结 | 第33-35页 |
第三章 硅微陀螺仪接口电路研究 | 第35-51页 |
3.1 引言 | 第35页 |
3.2 电容检测电路典型结构 | 第35-38页 |
3.2.1 电荷放大器型 | 第35-36页 |
3.2.2 开关电容型 | 第36-37页 |
3.2.3 跨阻放大器型 | 第37-38页 |
3.3 环形二极管电容检测电路 | 第38-48页 |
3.3.1 工作原理 | 第38-41页 |
3.3.2 环形二极管电容检测电路特性分析 | 第41-45页 |
3.3.3 二极管非理想特性的影响 | 第45-47页 |
3.3.4 环形二极管电容检测电路总结 | 第47-48页 |
3.4 硅微陀螺仪接口电路实验与参数优化 | 第48页 |
3.5 总结 | 第48-51页 |
第四章 硅微陀螺仪温度补偿技术研究 | 第51-67页 |
4.1 引言 | 第51页 |
4.2 温度对硅微陀螺仪零偏的影响机理 | 第51-54页 |
4.2.1 温度对硅微陀螺模态参数的影响 | 第51-53页 |
4.2.2 温度对测控电路的影响 | 第53页 |
4.2.3 温度对零偏的影响 | 第53-54页 |
4.3 基于BP神经网络的温度补偿模型 | 第54-63页 |
4.3.1 神经网络技术概述 | 第55-57页 |
4.3.2 硅微陀螺仪BP神经网络温度补偿模型 | 第57-59页 |
4.3.3 BP神经网络在线温度补偿算法实现 | 第59-63页 |
4.4 硅微陀螺仪温度补偿实验 | 第63-65页 |
4.4.1 BP神经网络温度模型精度测试与分析 | 第63-64页 |
4.4.2 BP神经网络温度补偿测试与分析 | 第64-65页 |
4.5 总结 | 第65-67页 |
第五章 硅微陀螺仪开环检测带宽拓展研究 | 第67-77页 |
5.1 引言 | 第67页 |
5.2 硅微陀螺仪开环检测 | 第67-72页 |
5.2.1 硅微陀螺仪开环检测模型 | 第67-71页 |
5.2.2 检测模态开环系统带宽 | 第71-72页 |
5.3 开环检测状态下的带宽拓展 | 第72-76页 |
5.3.1 开环幅频特性校正 | 第72-74页 |
5.3.2 开环幅频特性校正实现 | 第74-76页 |
5.3.3 带宽拓展实验 | 第76页 |
5.4 总结 | 第76-77页 |
第六章 硅微陀螺仪整机性能测试与分析 | 第77-85页 |
6.1 系统结构 | 第77-78页 |
6.2 硅微陀螺仪试验设备 | 第78页 |
6.3 硅微陀螺仪整机性能测试 | 第78-83页 |
6.3.1 标度因数相关指标测试 | 第78-80页 |
6.3.2 零偏相关指标测试 | 第80-82页 |
6.3.3 带宽 | 第82-83页 |
6.3.4 阈值 | 第83页 |
6.3.5 分辨率 | 第83页 |
6.4 整体性能指标汇总 | 第83-84页 |
6.5 总结 | 第84-85页 |
第七章 总结与展望 | 第85-87页 |
7.1 总结 | 第85页 |
7.2 展望 | 第85-87页 |
致谢 | 第87-89页 |
参考文献 | 第89-93页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第93页 |