| 摘要 | 第1-16页 |
| Abstract | 第16-18页 |
| 第一章 绪论 | 第18-32页 |
| ·研究的背景及意义 | 第18-28页 |
| ·研究背景与需求 | 第18-21页 |
| ·集成电路电磁兼容国内外研究现状 | 第21-25页 |
| ·已有研究成果及主要存在问题 | 第25-27页 |
| ·选题依据及意义 | 第27-28页 |
| ·论文的主要研究内容和章节安排 | 第28-32页 |
| ·论文主要研究内容 | 第28-30页 |
| ·论文章节编排 | 第30-32页 |
| 第二章 LDO 稳压器电磁兼容敏感度机理与分析方法研究 | 第32-63页 |
| ·电源稳压器通用电路结构研究 | 第32-41页 |
| ·电源稳压器类型分析 | 第32-34页 |
| ·LDO 稳压器的典型电路结构 | 第34-36页 |
| ·LDO 稳压器的电路结构分析 | 第36-41页 |
| ·LDO 稳压器关键电路的敏感度失效机理分析 | 第41-50页 |
| ·电磁干扰下 LDO 稳压器的失效模式分析 | 第41-42页 |
| ·运算放大器敏感度失效机理分析 | 第42-47页 |
| ·带隙电压基准电路敏感度失效机理分析 | 第47-50页 |
| ·LDO 稳压器电磁兼容建模与仿真分析方法 | 第50-56页 |
| ·建模仿真环境对比分析 | 第51-52页 |
| ·电路级建模与仿真分析方法 | 第52-53页 |
| ·行为级建模与仿真分析方法 | 第53-54页 |
| ·其它建模与仿真分析方法综述 | 第54-55页 |
| ·LDO 稳压器敏感度建模与仿真分析方法 | 第55-56页 |
| ·LDO 稳压器电磁兼容敏感度测试方法分析 | 第56-62页 |
| ·芯片级 EMC 敏感度测试方法对比分析 | 第56-59页 |
| ·LDO 稳压器敏感度测试方法 | 第59-62页 |
| ·本章小结 | 第62-63页 |
| 第三章 LDO 稳压器敏感度电路级建模与仿真 | 第63-97页 |
| ·引言 | 第63-64页 |
| ·实验芯片 LDO 稳压器电路结构分析 | 第64-72页 |
| ·实验芯片 LDO 稳压器电路总体结构 | 第64-65页 |
| ·共源共栅运算放大器电路 | 第65-66页 |
| ·Kuijk 带隙电压基准电路 | 第66-68页 |
| ·片上电压传感器与片上测量方法研究 | 第68-72页 |
| ·实验芯片 LDO 稳压器测试结果分析 | 第72-82页 |
| ·直流功能性测试 | 第73-74页 |
| ·阻抗测试结果与分析 | 第74-76页 |
| ·敏感度测试结果与分析 | 第76-82页 |
| ·LDO 稳压器敏感度电路级建模与仿真 | 第82-96页 |
| ·敏感度电路级建模与仿真流程 | 第83-85页 |
| ·建模过程分析 | 第85-89页 |
| ·模型验证 | 第89-92页 |
| ·传导敏感度仿真 | 第92-96页 |
| ·本章小结 | 第96-97页 |
| 第四章 LDO 稳压器敏感度行为级建模与仿真 | 第97-131页 |
| ·引言 | 第97-98页 |
| ·一款工业 LDO 稳压器芯片的电路结构与测试环境分析 | 第98-103页 |
| ·LDO 稳压器电路总体结构 | 第98-100页 |
| ·测试电路板电路分析 | 第100-101页 |
| ·敏感度测试环境分析 | 第101-103页 |
| ·LDO 稳压器芯片的测试结果分析 | 第103-108页 |
| ·直流测试结果与分析 | 第103页 |
| ·阻抗测试结果与分析 | 第103-106页 |
| ·传导敏感度测试结果与分析 | 第106-108页 |
| ·LDO 稳压器芯片的敏感度行为级建模与仿真 | 第108-130页 |
| ·LDO 稳压器敏感度行为级建模与仿真流程 | 第108-109页 |
| ·敏感度测试电路的建模与仿真 | 第109-117页 |
| ·LDO 稳压器非线性失效机理与仿真单元 | 第117-120页 |
| ·敏感度行为级模型仿真 | 第120-126页 |
| ·建模与仿真小结 | 第126-130页 |
| ·本章小结 | 第130-131页 |
| 第五章 加速老化对 LDO 稳压器 EMC 敏感度影响的机理研究 | 第131-175页 |
| ·引言 | 第131-136页 |
| ·集成电路加速老化研究综述 | 第131-133页 |
| ·集成电路加速老化与 EMC 敏感度研究方法学 | 第133-136页 |
| ·实验验证老化对 LDO 稳压器敏感度的影响 | 第136-146页 |
| ·LDO 稳压器加速老化测试研究方法学 | 第136-137页 |
| ·老化条件与测试平台搭建 | 第137-138页 |
| ·加速老化过程中直流测试 | 第138-140页 |
| ·加速老化过程中阻抗测试 | 第140-141页 |
| ·加速老化过程中敏感度测试 | 第141-145页 |
| ·加速老化后稳压器损坏样品测试 | 第145-146页 |
| ·LDO 稳压器加速老化性能降级机理分析 | 第146-158页 |
| ·加速老化造成稳压器输出电压偏移的机理分析 | 第146-153页 |
| ·加速老化造成敏感度降级的机理分析 | 第153-158页 |
| ·加速老化后 LDO 稳压器的 EMC 敏感度降级建模与仿真研究 | 第158-173页 |
| ·集成电路 EMR 仿真技术综述 | 第158-160页 |
| ·LDO 稳压器敏感度与加速老化结合的建模分析方法 | 第160-161页 |
| ·LDO 稳压器可靠性与加速老化结合的仿真分析 | 第161-173页 |
| ·本章小结 | 第173-175页 |
| 第六章 结论与展望 | 第175-177页 |
| ·研究工作的回顾 | 第175-176页 |
| ·相关研究工作的展望 | 第176-177页 |
| 致谢 | 第177-179页 |
| 参考文献 | 第179-190页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第190-191页 |
