光栅型成像光谱仪噪声抑制技术研究
| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 1 绪论 | 第8-17页 |
| ·成像光谱技术概述 | 第8页 |
| ·成像光谱仪的分类 | 第8-14页 |
| ·国内外研究现状 | 第14-15页 |
| ·研究的目的及意义 | 第15页 |
| ·本文研究的主要内容及章节安排 | 第15-16页 |
| ·研究的主要内容 | 第15-16页 |
| ·章节安排 | 第16页 |
| ·本章小结 | 第16-17页 |
| 2 光栅型成像光谱仪系统概述 | 第17-24页 |
| ·光栅型成像光谱仪工作原理 | 第17页 |
| ·衍射光栅基本工作原理 | 第17-21页 |
| ·平面反射式光栅的色散原理 | 第18页 |
| ·反射式平面衍射光栅的基本特性 | 第18-21页 |
| ·光栅型成像光谱仪光学系统组成 | 第21-23页 |
| ·前置望远系统 | 第21-22页 |
| ·光谱系统 | 第22-23页 |
| ·本章小结 | 第23-24页 |
| 3 光栅型成像光谱仪的噪声分析 | 第24-32页 |
| ·噪声产生的原因 | 第24页 |
| ·光栅型成像光谱仪系统组成 | 第24-25页 |
| ·光学噪声 | 第25-28页 |
| ·辐射传输模型 | 第25-28页 |
| ·杂散辐射噪声 | 第28页 |
| ·电子噪声 | 第28-31页 |
| ·CCD工作原理 | 第28-30页 |
| ·光子噪声 | 第30页 |
| ·暗电流噪声 | 第30页 |
| ·输出放大器噪声 | 第30-31页 |
| ·量化噪声 | 第31页 |
| ·非均匀性噪声 | 第31页 |
| ·本章小结 | 第31-32页 |
| 4 杂散噪声分析与抑制 | 第32-48页 |
| ·引言 | 第32页 |
| ·杂散光分析研究的理论基础 | 第32-35页 |
| ·基本能量传输方程 | 第32-33页 |
| ·光学系统的杂散光路径 | 第33-34页 |
| ·杂散光分析的步骤 | 第34-35页 |
| ·望远系统的消杂光设计与分析 | 第35-47页 |
| ·望远系统遮光系统设计 | 第35-39页 |
| ·杂散光结果分析 | 第39-47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 5 光谱串扰的校正 | 第48-58页 |
| ·光谱串扰产生的原因 | 第48-50页 |
| ·修正原理 | 第50-51页 |
| ·波长定标 | 第51-54页 |
| ·实验结果 | 第54-57页 |
| ·本章小结 | 第57-58页 |
| 6 结论 | 第58-60页 |
| ·结论 | 第58-59页 |
| ·展望 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第63-64页 |
| 致谢 | 第64-66页 |
