基于LabVIEW的石英晶片检测系统
致谢 | 第1-6页 |
摘要 | 第6-7页 |
ABSTRACT | 第7-8页 |
目录 | 第8-10页 |
第一章 绪论 | 第10-17页 |
·石英晶片检测国内外现状 | 第10-11页 |
·石英晶片 | 第10-11页 |
·国内外检测仪现状 | 第11页 |
·缺陷检测技术 | 第11-13页 |
·PLC控制器的应用 | 第13页 |
·LabVIEW软件的应用 | 第13-14页 |
·系统目标及创新 | 第14-17页 |
第二章 系统总体设计方案 | 第17-24页 |
·研究内容 | 第17-19页 |
·系统光学原理 | 第19-21页 |
·系统框架 | 第21-23页 |
·模块划分 | 第21-22页 |
·系统工作流程 | 第22-23页 |
·本章小结 | 第23-24页 |
第三章 基于PLC的下位机控制方案 | 第24-43页 |
·下位机子系统 | 第24-28页 |
·进料子系统 | 第24-25页 |
·取片子系统 | 第25-26页 |
·检片子系统 | 第26-27页 |
·分档子系统 | 第27-28页 |
·下位机硬件机构选取 | 第28-31页 |
·控制单元的选取 | 第28-29页 |
·直线电机及圆盘步进电机的选取 | 第29-30页 |
·USB相机及LED光源的选取 | 第30-31页 |
·硬件平台的设计 | 第31-34页 |
·下位机子模块流程 | 第34-40页 |
·定位圆盘运动模块 | 第34-35页 |
·定位直线电机运动模块 | 第35页 |
·检测圆盘运动模块及检测直线电机运动模块 | 第35-37页 |
·散料模块 | 第37-39页 |
·初始化模块 | 第39页 |
·报警模块 | 第39-40页 |
·下位机总流程 | 第40-41页 |
·本章小节 | 第41-43页 |
第四章 基于LabVIEW的上位机控制方案 | 第43-63页 |
·通信模块 | 第43-48页 |
·PLC串行口初始化模块 | 第43-45页 |
·电机初始化模块 | 第45-46页 |
·发送与接收模块 | 第46-47页 |
·检测相机外触发模块 | 第47-48页 |
·图像采集模块 | 第48-51页 |
·图像处理模块 | 第51-56页 |
·图像预处理模块 | 第51-52页 |
·定位图像处理模块 | 第52-55页 |
·缺陷检测模块 | 第55-56页 |
·上位机系统流程 | 第56-62页 |
·本章小结 | 第62-63页 |
第五章 测试结果与分析 | 第63-67页 |
第六章 总结与展望 | 第67-69页 |
·研究总结 | 第67-68页 |
·未来展望 | 第68-69页 |
参考文献 | 第69-72页 |
作者简历 | 第72页 |