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基于LabVIEW的石英晶片检测系统

致谢第1-6页
摘要第6-7页
ABSTRACT第7-8页
目录第8-10页
第一章 绪论第10-17页
   ·石英晶片检测国内外现状第10-11页
     ·石英晶片第10-11页
     ·国内外检测仪现状第11页
   ·缺陷检测技术第11-13页
   ·PLC控制器的应用第13页
   ·LabVIEW软件的应用第13-14页
   ·系统目标及创新第14-17页
第二章 系统总体设计方案第17-24页
   ·研究内容第17-19页
   ·系统光学原理第19-21页
   ·系统框架第21-23页
     ·模块划分第21-22页
     ·系统工作流程第22-23页
   ·本章小结第23-24页
第三章 基于PLC的下位机控制方案第24-43页
   ·下位机子系统第24-28页
     ·进料子系统第24-25页
     ·取片子系统第25-26页
     ·检片子系统第26-27页
     ·分档子系统第27-28页
   ·下位机硬件机构选取第28-31页
     ·控制单元的选取第28-29页
     ·直线电机及圆盘步进电机的选取第29-30页
     ·USB相机及LED光源的选取第30-31页
   ·硬件平台的设计第31-34页
   ·下位机子模块流程第34-40页
     ·定位圆盘运动模块第34-35页
     ·定位直线电机运动模块第35页
     ·检测圆盘运动模块及检测直线电机运动模块第35-37页
     ·散料模块第37-39页
     ·初始化模块第39页
     ·报警模块第39-40页
   ·下位机总流程第40-41页
   ·本章小节第41-43页
第四章 基于LabVIEW的上位机控制方案第43-63页
   ·通信模块第43-48页
     ·PLC串行口初始化模块第43-45页
     ·电机初始化模块第45-46页
     ·发送与接收模块第46-47页
     ·检测相机外触发模块第47-48页
   ·图像采集模块第48-51页
   ·图像处理模块第51-56页
     ·图像预处理模块第51-52页
     ·定位图像处理模块第52-55页
     ·缺陷检测模块第55-56页
   ·上位机系统流程第56-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 测试结果与分析第63-67页
第六章 总结与展望第67-69页
   ·研究总结第67-68页
   ·未来展望第68-69页
参考文献第69-72页
作者简历第72页

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