基于物体的磁特性的应力测量装置的研究
| 内容提要 | 第1-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-16页 |
| ·课题的来源及意义 | 第7页 |
| ·残余应力产生原理 | 第7-10页 |
| ·残余应力产生的原因 | 第7-8页 |
| ·残余应力的分类 | 第8页 |
| ·残余应力的危害 | 第8-10页 |
| ·残余应力测量方法 | 第10-14页 |
| ·有损检测法 | 第10-11页 |
| ·无损检测法 | 第11-14页 |
| ·本论文的主要内容 | 第14-16页 |
| 第二章理论基础及芯片简介 | 第16-27页 |
| ·磁导率法应力分析基本原理 | 第16-20页 |
| ·畴壁位移的理论 | 第17-18页 |
| ·起始磁化率的计算 | 第18-20页 |
| ·芯片器件简介 | 第20-27页 |
| ·单片机AT89C52 | 第20-23页 |
| ·LM741 | 第23-24页 |
| ·DAC0832 | 第24页 |
| ·TDA2030 | 第24-27页 |
| 第三章 测量系统构成 | 第27-35页 |
| ·测量系统流程图及其电路图 | 第27-28页 |
| ·应力传感器的设计 | 第28-29页 |
| ·信号源 | 第29-30页 |
| ·D/A 电路 | 第30-31页 |
| ·显示电路 | 第31页 |
| ·功率放大电路 | 第31-32页 |
| ·应力报警 | 第32-33页 |
| ·软件设计 | 第33-35页 |
| 第四章影响试验结果因素及数据修正 | 第35-41页 |
| ·杂散磁场影响 | 第35-37页 |
| ·相对措施 | 第35-36页 |
| ·对探头的封装进行改进 | 第36-37页 |
| ·探头与工件间的缝隙对结果的影响 | 第37-38页 |
| ·激励频率与信号的选择 | 第38-40页 |
| ·温度对实验结果的影响 | 第40-41页 |
| 第五章总结及展望 | 第41-42页 |
| 参考文献 | 第42-45页 |
| 致谢 | 第45-46页 |
| 摘要 | 第46-49页 |
| Abstract | 第49-50页 |
