摘要 | 第1-6页 |
ABSTRACT | 第6-9页 |
目录 | 第9-12页 |
第一章 绪论 | 第12-21页 |
·软测量的意义 | 第12-13页 |
·软测量研究现状 | 第13-18页 |
·在线预测 | 第13-16页 |
·过程监测与故障诊断 | 第16-17页 |
·传感器故障检测与重构 | 第17-18页 |
·软测量存在的主要问题 | 第18-19页 |
·论文的研究内容及结构安排 | 第19-21页 |
第二章 软测量技术理论框架 | 第21-38页 |
·软测量技术定义及其实现步骤 | 第21-23页 |
·软测量技术的定义 | 第21页 |
·软测量的实现步骤 | 第21-23页 |
·辅助变量的选择 | 第23-24页 |
·基于机理分析的方法 | 第23页 |
·基于相关分析的方法 | 第23-24页 |
·基于模型检验的方法 | 第24页 |
·基于粗糙集的方法 | 第24页 |
·数据预处理 | 第24-28页 |
·数据误差处理 | 第24-27页 |
·数据变换 | 第27-28页 |
·软测量建模 | 第28-34页 |
·机理分析建模方法 | 第28页 |
·数据驱动的建模方法 | 第28-34页 |
·混合建模方法 | 第34页 |
·软测量模型的校正 | 第34-37页 |
·偏差补偿校正 | 第35页 |
·模型递推校正 | 第35-36页 |
·模型重构校正 | 第36-37页 |
·本章小结 | 第37-38页 |
第三章 软测量模型性能评价、监测及其自适应校正方法 | 第38-59页 |
·软测量模型性能评价与监测 | 第39-44页 |
·软测量模型性能评价指标的特性要求 | 第39-40页 |
·软测量模型性能评价指标的构建 | 第40-42页 |
·软测量模型性能监测 | 第42-44页 |
·软测量模型的自适应校正方法 | 第44-47页 |
·过程特性渐变时的校正方法—模型递推校正 | 第45页 |
·过程特性突变时的校正方法—模型重构校正 | 第45-47页 |
·软测量模型性能评价、监测及其自适应校正算法流程 | 第47-48页 |
·连续搅拌釜式反应器软测量仿真实验 | 第48-55页 |
·实验设计 | 第48-50页 |
·软测量模型性能的评价与监测实验 | 第50-51页 |
·过程特性变化分类器的训练 | 第51-52页 |
·软测量模型自适应校正实验 | 第52-55页 |
·四效蒸发器软测量仿真实验 | 第55-58页 |
·本章小结 | 第58-59页 |
第四章 基于彩色CCD图像传感器的高温场软测量建模 | 第59-83页 |
·研究的意义和背景 | 第59-61页 |
·基于CCD图像传感器的辐射测温研究现状 | 第61-62页 |
·比色测温及CCD成像原理分析 | 第62-69页 |
·比色测温原理 | 第62-64页 |
·彩色CCD成像原理 | 第64-66页 |
·CCD的光辐射学原理 | 第66-68页 |
·传统的CCD比色测温方法的误差分析 | 第68-69页 |
·CCD比色测温机理模型 | 第69-74页 |
·比色颜色的选择 | 第69-70页 |
·改进的CCD比色测温公式 | 第70-74页 |
·待定参数的辨识 | 第74-76页 |
·光谱响应特性系数K~0的辨识 | 第74-75页 |
·光谱发射率变化影响因子lnε(λ_α,T)/ε(λ_β,T)的辨识 | 第75-76页 |
·烟雾干扰补偿器的构建 | 第76-80页 |
·辐射能量衰减分析 | 第76-78页 |
·烟雾干扰区域的识别 | 第78页 |
·烟雾干扰区测温结果校正算法 | 第78-80页 |
·基于CCD的高温场软测量模型的自适应校正 | 第80-82页 |
·过程特性变化情况分析 | 第80-81页 |
·光谱发射率变化影响因子的自适应校正 | 第81-82页 |
·本章小结 | 第82-83页 |
第五章 高温辐射图像预处理方法 | 第83-97页 |
·基于干扰源辐射体颜色信息的高温图像目标识别方法 | 第83-90页 |
·高温图像目标识别概述 | 第83-84页 |
·高温辐射体目标图像干扰源特性分析 | 第84-85页 |
·高温辐射体目标图像的分割方法 | 第85-87页 |
·图像分割结果的后处理 | 第87-89页 |
·高温辐射体目标图像识别流程 | 第89页 |
·实验研究 | 第89-90页 |
·基于两级模板的CCD图像噪声滤波方法 | 第90-95页 |
·CCD图像传感器的噪声分析 | 第90-91页 |
·基于两级模板的改进均值滤波算法 | 第91-95页 |
·实验研究 | 第95页 |
·本章小结 | 第95-97页 |
第六章 基于彩色CCD图像传感器的高温场软测量系统开发 | 第97-117页 |
·基于彩色CCD图像传感器的高温场软测量系统 | 第97-103页 |
·硬件平台的构建 | 第97-101页 |
·测温软件开发 | 第101-103页 |
·测温系统的标定与光谱响应特性建模 | 第103-107页 |
·CCD光谱响应特性系数的标定 | 第103-105页 |
·CCD光谱响应特性建模 | 第105页 |
·标定实验精度分析 | 第105-107页 |
·测温实验及结果分析 | 第107-110页 |
·标准黑体辐射源校准实验 | 第107页 |
·工业炉测温实验 | 第107-109页 |
·基于彩色CCD的高温场软测量系统在铜锍闪速熔炼中的应用 | 第109-110页 |
·与类似仪器的比较分析 | 第110-116页 |
·国内外类似仪器简介 | 第110-113页 |
·基于彩色CCD的高温场软测量系统性能 | 第113-115页 |
·与国内外类似仪器的性价比较 | 第115-116页 |
·本章小结 | 第116-117页 |
第七章 结论与展望 | 第117-120页 |
参考文献 | 第120-132页 |
附录1 高温场测量仪校准证书 | 第132-135页 |
致谢 | 第135-136页 |
攻读学位期间主要的研究成果 | 第136-137页 |