KAPTON薄膜电子辐照损伤效应
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-33页 |
| ·选题背景 | 第10页 |
| ·热控涂层的热控原理 | 第10-13页 |
| ·太阳吸收比和半球发射率 | 第11页 |
| ·航天器的热平衡 | 第11-13页 |
| ·空间环境及其对热控涂层的影响 | 第13-23页 |
| ·空间真空 | 第13-14页 |
| ·冷黑环境 | 第14页 |
| ·太阳电磁辐射 | 第14-15页 |
| ·空间带电粒子辐射 | 第15-18页 |
| ·原子氧 | 第18-20页 |
| ·等离子体 | 第20-21页 |
| ·污染 | 第21-23页 |
| ·空间辐照的地面模拟 | 第23-24页 |
| ·带电粒子与物质的相互作用 | 第24-28页 |
| ·几个常用概念的定义 | 第25-26页 |
| ·粒子辐照对材料的损伤 | 第26-27页 |
| ·带电粒子对材料组织结构的影响 | 第27-28页 |
| ·带电粒子对材料性能的影响 | 第28页 |
| ·带电粒子对聚合物薄膜材料性能与结构的影响 | 第28-29页 |
| ·带电粒子的加热与充电效应 | 第28-29页 |
| ·带电粒子辐照对聚合物物理与力学性能的影响 | 第29页 |
| ·带电粒子辐照对聚合物化学结构的影响 | 第29页 |
| ·酰亚胺材料的特点及其在航天领域的应用 | 第29-32页 |
| ·聚酰亚胺组成及性能 | 第29-30页 |
| ·航天器用聚酰亚胺薄膜研究与应用现状 | 第30-32页 |
| ·粒子辐射过程模拟 | 第32页 |
| ·研究目的及内容 | 第32-33页 |
| 第2章 材料设备及试验方法 | 第33-39页 |
| ·试样 | 第33页 |
| ·辐照设备 | 第33-34页 |
| ·积分球 | 第34-35页 |
| ·吸收光谱基本概念与原理 | 第35页 |
| ·太阳吸收比计算 | 第35-36页 |
| ·研究方案 | 第36-37页 |
| ·试验方法 | 第37-39页 |
| ·光学性能测试 | 第37页 |
| ·X射线光电子能谱（XPS） | 第37-38页 |
| ·原子力显微镜（AFM） | 第38页 |
| ·纳米硬度 | 第38页 |
| ·X射线衍射（XRD） | 第38页 |
| ·傅立叶变换红外光谱（FTIR） | 第38-39页 |
| 第3章 Kapton薄膜电子辐照光学性能演化规律 | 第39-47页 |
| ·Kapton薄膜电子辐照前后表观变化 | 第39页 |
| ·Kapton薄膜透过率变化规律 | 第39-42页 |
| ·Kapton镀铝薄膜反射率的变化规律 | 第42-45页 |
| ·本章小结 | 第45-47页 |
| 第4章 Kapton薄膜电子辐照损伤效应 | 第47-70页 |
| ·计算机模拟 | 第47-52页 |
| ·蒙特卡罗方法(Monte Carlo) | 第47页 |
| ·Kapton薄膜电子辐照CASINO程序模拟 | 第47-52页 |
| ·电子辐照对Kapton薄膜性能的影响 | 第52-55页 |
| ·表面性貌变化 | 第52-54页 |
| ·表面硬度测试 | 第54-55页 |
| ·电子辐照对Kapton薄膜化学结构的影响 | 第55-66页 |
| ·XPS分析 | 第55-65页 |
| ·FTIR分析 | 第65页 |
| ·XRD分析 | 第65-66页 |
| ·机理分析 | 第66-68页 |
| ·辐照对高分子材料基本性能的影响 | 第66-67页 |
| ·高分子材料的抗辐照性 | 第67页 |
| ·Kapton薄膜损伤机理分析 | 第67-68页 |
| ·本章小结 | 第68-70页 |
| 结论 | 第70-71页 |
| 参考文献 | 第71-78页 |
| 致谢 | 第78页 |
