| 主要英文缩略语索引 | 第1-6页 |
| 摘要 | 第6-8页 |
| Abstract | 第8-10页 |
| 第一部分 前言 | 第10-15页 |
| 1 分子印迹技术的原理与分类 | 第10-13页 |
| 2 MIP 的表征及其对底物的识别机理 | 第13页 |
| 3 研究展望及本论文的立题 | 第13-15页 |
| 第二部分 封管聚合 Asp 分子印迹体系的建立与评价 | 第15-34页 |
| 1 引言 | 第15页 |
| 2 实验部分 | 第15-19页 |
| 3 结果与讨论 | 第19-33页 |
| 4 小结 | 第33-34页 |
| 第三部分 牺牲硅胶法 Asp 分子印迹体系的建立及评价 | 第34-47页 |
| 1 引言 | 第34页 |
| 2 实验部分 | 第34-37页 |
| 3 结果和讨论 | 第37-46页 |
| 4 小结 | 第46-47页 |
| 第四部分 原位聚合Asp 分子印迹体系的建立及评价 | 第47-55页 |
| 1 引言 | 第47页 |
| 2 实验部分 | 第47-48页 |
| 3 结果和讨论 | 第48-54页 |
| 4 小结 | 第54-55页 |
| 结论 | 第55-56页 |
| 参考文献 | 第56-60页 |
| 附录 | 第60-73页 |
| 综述 | 第60-73页 |
| 已/待发表的论文 | 第73-74页 |
| 致谢 | 第74页 |