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用于纳米颗粒粒度测量的模拟探测动态光散射技术研究

提要第1-7页
第一章 绪论第7-28页
   ·纳米材料和纳米结构第8-16页
   ·纳米颗粒检测技术及进展第16-26页
   ·本论文的主要内容及意义第26-28页
第二章 动态光散射技术的理论基础第28-52页
   ·光散射的基本概念第28-31页
   ·Rayleigh 散射第31-34页
   ·Mie 散射第34-43页
   ·动态光散射理论第43-52页
第三章 高时间分辨率模拟探测动态光散射技术研究第52-73页
   ·引言第52-53页
   ·光子相关光谱技术分析第53-57页
   ·模拟探测动态光散射技术的理论基础第57-62页
   ·模拟探测动态光散射技术的物理实现第62-68页
   ·实验结果分析和讨论第68-72页
   ·小结第72-73页
第四章 动态光散射实验基础及数据处理第73-98页
   ·引言第73页
   ·动态光散射实验基础第73-83页
   ·动态光散射数据处理方法第83-93页
   ·噪声的影响和克服第93-98页
第五章 采样速率对颗粒粒度测量误差的影响第98-116页
   ·引言第98-99页
   ·采样速率与信号失真第99-101页
   ·噪声导致的测量误差分析第101-104页
   ·实验系统装置结构第104-105页
   ·采样速率对散射光强时间自相关函数的影响第105-111页
   ·采样速率对颗粒粒度测量误差的影响及分析第111-115页
   ·小结第115-116页
论文总结第116-118页
参考文献第118-134页
附录A 散射光与涨落第134-143页
附录B Stokes-Einstein 关系第143-149页
发表论文情况第149-151页
致谢第151-152页
中文摘要第152-159页
英文摘要第159-166页

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