用于纳米颗粒粒度测量的模拟探测动态光散射技术研究
提要 | 第1-7页 |
第一章 绪论 | 第7-28页 |
·纳米材料和纳米结构 | 第8-16页 |
·纳米颗粒检测技术及进展 | 第16-26页 |
·本论文的主要内容及意义 | 第26-28页 |
第二章 动态光散射技术的理论基础 | 第28-52页 |
·光散射的基本概念 | 第28-31页 |
·Rayleigh 散射 | 第31-34页 |
·Mie 散射 | 第34-43页 |
·动态光散射理论 | 第43-52页 |
第三章 高时间分辨率模拟探测动态光散射技术研究 | 第52-73页 |
·引言 | 第52-53页 |
·光子相关光谱技术分析 | 第53-57页 |
·模拟探测动态光散射技术的理论基础 | 第57-62页 |
·模拟探测动态光散射技术的物理实现 | 第62-68页 |
·实验结果分析和讨论 | 第68-72页 |
·小结 | 第72-73页 |
第四章 动态光散射实验基础及数据处理 | 第73-98页 |
·引言 | 第73页 |
·动态光散射实验基础 | 第73-83页 |
·动态光散射数据处理方法 | 第83-93页 |
·噪声的影响和克服 | 第93-98页 |
第五章 采样速率对颗粒粒度测量误差的影响 | 第98-116页 |
·引言 | 第98-99页 |
·采样速率与信号失真 | 第99-101页 |
·噪声导致的测量误差分析 | 第101-104页 |
·实验系统装置结构 | 第104-105页 |
·采样速率对散射光强时间自相关函数的影响 | 第105-111页 |
·采样速率对颗粒粒度测量误差的影响及分析 | 第111-115页 |
·小结 | 第115-116页 |
论文总结 | 第116-118页 |
参考文献 | 第118-134页 |
附录A 散射光与涨落 | 第134-143页 |
附录B Stokes-Einstein 关系 | 第143-149页 |
发表论文情况 | 第149-151页 |
致谢 | 第151-152页 |
中文摘要 | 第152-159页 |
英文摘要 | 第159-166页 |