| 摘要 | 第1-4页 |
| ABSTRACT | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-12页 |
| ·选题背景及意义 | 第8-9页 |
| ·金属检测机概述 | 第9-10页 |
| ·本文研究内容与结构 | 第10-12页 |
| 第二章 金属检测机控制系统的特点与需求分析 | 第12-17页 |
| ·金属检测机检测原理与控制系统现状 | 第12-13页 |
| ·基于ARM的金属检测机嵌入式控制的实现机理 | 第13-17页 |
| ·电磁感应信号检测 | 第14-15页 |
| ·检测精度的设置与调节 | 第15页 |
| ·金属检测机的监控实现 | 第15-16页 |
| ·各工作模式的设置实现 | 第16页 |
| ·检测计数与统计的实现 | 第16页 |
| ·检测结果定位 | 第16-17页 |
| 第三章 基于ARM和μC/OS-II的嵌入式实时多任务系统 | 第17-26页 |
| ·基于ARM核的微处理器LPC2220 | 第18-21页 |
| ·ARM处理器运行模式 | 第18-19页 |
| ·ARM处理器寄存器结构 | 第19-20页 |
| ·ARM处理器异常处理与异常向量表 | 第20-21页 |
| ·μC/OS-II中实时多任务调度的实现 | 第21-25页 |
| ·μC/OS-II的实时任务调度 | 第21-23页 |
| ·μC/OS-II的任务状态与任务间通信 | 第23-24页 |
| ·μC/OS-II的任务结构 | 第24-25页 |
| ·μC/OS-II与LPC2220的协作 | 第25-26页 |
| 第四章 金属检测机嵌入式控制系统硬件电路研发 | 第26-35页 |
| ·系统硬件电路总体思路 | 第26-27页 |
| ·系统硬件电路的研发 | 第27-34页 |
| ·电源与时钟电路 | 第27-28页 |
| ·扩展存储器控制电路 | 第28-29页 |
| ·A/D转换电路 | 第29-30页 |
| ·触摸屏控制电路 | 第30-31页 |
| ·LCM控制电路 | 第31-32页 |
| ·串行通信电路 | 第32-33页 |
| ·红外监测电路 | 第33页 |
| ·参数保存与RTC控制电路 | 第33-34页 |
| ·硬件电路设计小结 | 第34-35页 |
| 第五章 金属检测机嵌入式控制系统软件开发 | 第35-60页 |
| ·启动引导程序开发 | 第35-40页 |
| ·堆、堆栈空间的分配与初始化 | 第37-38页 |
| ·系统引导与初始化 | 第38-39页 |
| ·段定位与分散加载文件 | 第39-40页 |
| ·金属检测机嵌入式实时控制系统应用软件开发 | 第40-57页 |
| ·金属检测机嵌入式控制系统中多任务的划分 | 第41-43页 |
| ·任务堆栈与任务间通讯资源定义 | 第43-44页 |
| ·中断处理的实现 | 第44-47页 |
| ·用户任务的实现 | 第47-57页 |
| ·应用程序开发环境与编译调试 | 第57-58页 |
| ·基于C/OS-II的实时多任务应用开发小结 | 第58-60页 |
| 第六章 信号采集数字滤波算法 | 第60-64页 |
| ·信号采集分析 | 第60-61页 |
| ·数字滤波的实现 | 第61-64页 |
| 第七章 总结与展望 | 第64-66页 |
| ·全文总结 | 第64-65页 |
| ·展望 | 第65-66页 |
| 致谢 | 第66-67页 |
| 参考文献 | 第67-69页 |
| 附录1 项目照片 | 第69-74页 |
| 附录2 程序代码 | 第74-77页 |