| 第一章 前言 | 第1-12页 |
| ·概述 | 第7-10页 |
| ·发光器件I/V 特性参数自动测试装置的系统构成简介 | 第10-11页 |
| ·论文主要内容 | 第11-12页 |
| 第二章 可程控电压源工作原理 | 第12-20页 |
| ·可程控电压源主要技术指标介绍 | 第12页 |
| ·可程控电压源原理 | 第12-20页 |
| 第三章 可程控微弱电流测量仪工作原理 | 第20-31页 |
| ·可程控微弱电流测量仪的主要技术指标介绍 | 第20页 |
| ·可程控微弱电流测量仪的工作原理介绍 | 第20-21页 |
| ·微弱电流放大器原理 | 第21-23页 |
| ·微弱电流数字信号处理电路 | 第23-26页 |
| ·微弱电流测量模型及参数估计 | 第26-27页 |
| ·微弱电流信号的随机过程处理 | 第27-31页 |
| 第四章 自动测试系统及控制软件 | 第31-37页 |
| ·自动测试系统及控制软件简介 | 第31页 |
| ·自动测试系统及控制软件的编制 | 第31-34页 |
| ·自动测试系统及控制软件的结构和流程 | 第34-37页 |
| 第五章 测试数据分析 | 第37-59页 |
| ·可程控电压源不确定度分析与评定 | 第37-41页 |
| ·数学模型 | 第37页 |
| ·不确定度来源分析 | 第37-38页 |
| ·标准不确定度 | 第38-40页 |
| ·合成不确定度 | 第40-41页 |
| ·扩展不确定度 | 第41页 |
| ·可程控电压源的实验数据 | 第41-42页 |
| ·可程控微弱电流测量不确定度分析与评定 | 第42-47页 |
| ·数学模型 | 第42-43页 |
| ·不确定度来源及标准不确定度 | 第43-47页 |
| ·合成不确定度 | 第47页 |
| ·扩展不确定度 | 第47页 |
| ·可程控微弱电流测量仪实验数据 | 第47-54页 |
| ·示值测量数据 | 第47-51页 |
| ·随机过程处理的实验数据 | 第51-53页 |
| ·极限灵敏度实验数据 | 第53-54页 |
| ·光电显示器件I/V 特性曲线测量数据 | 第54-59页 |
| ·LED 整体I/V 特性曲线测量数据 | 第54-55页 |
| ·LED 分段I/V 特性曲线测量数据 | 第55-57页 |
| ·LED 分段弱电流/弱电压特性测量曲线 | 第57页 |
| ·LED 光电显示器件低频噪声测量曲线数据 | 第57-59页 |
| 第六章 结论 | 第59-63页 |
| ·整个装置的系统原理总结 | 第59-60页 |
| ·装置的技术指标 | 第60-61页 |
| ·装置的不足及需要改进之处 | 第61-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 致谢 | 第65-66页 |
| 摘要 | 第66-69页 |
| Abstract | 第69-71页 |