| 摘要 | 第1-12页 |
| ABSTRACT | 第12-13页 |
| 第一章 绪论 | 第13-21页 |
| ·寄存器文件简介 | 第13-14页 |
| ·CMOS集成电路设计方法 | 第14-17页 |
| ·基于阵列的半定制设计方法 | 第15页 |
| ·基于单元的半定制设计方法 | 第15-16页 |
| ·全定制设计方法 | 第16-17页 |
| ·存储部件测试技术 | 第17-19页 |
| ·课题背景、研究内容及意义 | 第19-20页 |
| ·本文结构 | 第20-21页 |
| 第二章 寄存器文件总体设计 | 第21-28页 |
| ·设计目标和端口说明 | 第21-23页 |
| ·读写时序对比选择 | 第23-24页 |
| ·寄存器文件基本读写工作过程 | 第23页 |
| ·寄存器文件读写时序对比选择 | 第23-24页 |
| ·总体模块划分 | 第24-27页 |
| ·总体模块划分说明 | 第24-25页 |
| ·模块内子单元相互关系 | 第25-27页 |
| ·小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于时序驱动的寄存器文件电路设计和模拟 | 第28-55页 |
| ·时序驱动的电路设计方法 | 第28-31页 |
| ·层次化、规则化的设计思想 | 第28-29页 |
| ·负载估计 | 第29-30页 |
| ·时序驱动的电路设计 | 第30-31页 |
| ·时序分配 | 第31-33页 |
| ·时序分配参考策略 | 第31-32页 |
| ·逻辑模拟的时序分配 | 第32-33页 |
| ·核心位单元模块电路设计和逻辑模拟 | 第33-39页 |
| ·单元功能说明和接口 | 第34页 |
| ·单存体位单元电路 | 第34-35页 |
| ·单存体读写方向信号EnNW_R产生电路 | 第35-36页 |
| ·控制信号Clk_80_290 产生电路 | 第36页 |
| ·双存体位单元电路 | 第36-38页 |
| ·双存体读写方向信号DEnNW_R产生电路 | 第38页 |
| ·控制信号Clk_80_290D产生电路 | 第38-39页 |
| ·译码模块电路设计和逻辑模拟 | 第39-42页 |
| ·单元功能说明和接口 | 第39页 |
| ·读写译码电路 | 第39-41页 |
| ·控制信号Clk_45_260（Clk_45_260D）产生电路 | 第41-42页 |
| ·控制信号Clk_50_220（Clk_50_220D）产生电路 | 第42页 |
| ·两级敏感放大输出模块电路设计和逻辑模拟 | 第42-45页 |
| ·单元功能说明和接口 | 第42-43页 |
| ·两级敏感放大电路 | 第43-44页 |
| ·控制信号LSE产生电路 | 第44页 |
| ·控制信号GSE产生电路 | 第44-45页 |
| ·旁路模块电路设计和逻辑模拟 | 第45-52页 |
| ·单元功能说明和接口 | 第45-46页 |
| ·细化的旁路模块时序分配 | 第46页 |
| ·工作焦点控制分析 | 第46-47页 |
| ·写数据旁路输出电路 | 第47-48页 |
| ·旁路使能产生电路 | 第48页 |
| ·特殊字地址比较电路 | 第48-49页 |
| ·读写地址比较电路 | 第49-50页 |
| ·控制信号Clk_45 产生电路 | 第50-51页 |
| ·控制信号Clk_50 产生电路 | 第51页 |
| ·控制信号Clk_120CE产生电路 | 第51-52页 |
| ·控制信号Clk_120CD产生电路 | 第52页 |
| ·整体电路时序验证 | 第52-54页 |
| ·小结 | 第54-55页 |
| 第四章 基于横向纵向扩展的寄存器文件版图设计和验证 | 第55-76页 |
| ·版图布局规划 | 第55-56页 |
| ·横向纵向扩展驱动的版图设计步骤 | 第56-57页 |
| ·使用的设计规则 | 第57-59页 |
| ·左、右体版图设计 | 第59-62页 |
| ·20 端口译码器版图设计 | 第62-65页 |
| ·体拼接 | 第65-66页 |
| ·全局敏感放大器阵列版图设计 | 第66-67页 |
| ·旁路模块版图设计 | 第67-68页 |
| ·整体版图 | 第68-69页 |
| ·完善的电源地网络 | 第69页 |
| ·版图验证 | 第69-72页 |
| ·寄生参数提取和版图模拟 | 第72-75页 |
| ·小结 | 第75-76页 |
| 第五章 寄存器文件内建自测试（BIST）算法设计 | 第76-101页 |
| ·Memory BIST模块组成及相互关系 | 第76-77页 |
| ·March算法基本理论 | 第77-81页 |
| ·March算法符号 | 第77-78页 |
| ·故障模型 | 第78-80页 |
| ·March算法类型 | 第80-81页 |
| ·寄存器文件BIST算法设计 | 第81-88页 |
| ·寄存器文件字线、位线排列 | 第82-83页 |
| ·寄存器文件BIST算法 | 第83-88页 |
| ·寄存器文件的故障类型分析 | 第88-100页 |
| ·基本故障 | 第88-89页 |
| ·字线间桥接故障和位线间桥接故障 | 第89-94页 |
| ·串扰引起的字线间耦合故障和位线间耦合故障 | 第94-100页 |
| ·小结 | 第100-101页 |
| 结束语 | 第101-102页 |
| 致谢 | 第102-103页 |
| 参考文献 | 第103-106页 |
| 作者在学期间取得的学术成果 | 第106页 |
