摘要 | 第1-5页 |
Abstract | 第5-9页 |
引言 | 第9-11页 |
1 近场光学显微镜简介 | 第11-19页 |
·近场光学 | 第11页 |
·近场光学显微镜成像技术现状 | 第11-12页 |
·近场光学显微镜的基本结构 | 第12-13页 |
·几种典型的近场光学显微镜 | 第13-17页 |
·扫描近场光学显微镜(SNOM) | 第13-14页 |
·原子力显微镜(AFM) | 第14-15页 |
·光子扫描隧道显微镜(PSTM) | 第15-16页 |
·新一代AF/PSTM组合光学显微镜 | 第16-17页 |
参考文献 | 第17-19页 |
2 近场光学理论分析方法简介 | 第19-25页 |
·微扰法 | 第19-20页 |
·多重多极子法 | 第20页 |
·格林函数法 | 第20-22页 |
·有限元法 | 第22页 |
·时域有限差分法(FDTD) | 第22-24页 |
参考文献 | 第24-25页 |
3 时域有限差分法及其相关技术 | 第25-44页 |
·Yee氏网格 | 第25页 |
·Maxwell方程及其FDTD形式 | 第25-32页 |
·非色散介质下的FDTD方程 | 第26-27页 |
·色散介质下的FDTD方程—递归卷积方法 | 第27-32页 |
·吸收边界条件 | 第32-38页 |
·Mur边界条件 | 第33-34页 |
·Liao氏边界条件 | 第34-36页 |
·完全匹配层边界条件 | 第36-38页 |
·入射波的设置 | 第38-40页 |
·时谐场源 | 第38-39页 |
·脉冲源 | 第39页 |
·等效入射波法 | 第39-40页 |
·亚网格技术 | 第40-43页 |
参考文献 | 第43-44页 |
4 国内外时域有限差分法在近场光学显微镜中的应用概述 | 第44-53页 |
·扫描近场光学显微镜成像的时域有限差分法研究 | 第44-49页 |
·SNOM光纤和样品相互作用的研究 | 第44-46页 |
·SNOM探针形状对成像影响的分析 | 第46-49页 |
·光子扫描隧道显微镜的数值模拟研究 | 第49-52页 |
·等效入射波法FDTD分析PSTM | 第49-50页 |
·玻璃,空气和平面探针三层模式的2D-FDTD模拟 | 第50-51页 |
·光子扫描隧道显微镜球形样品二维近场强度分析 | 第51-52页 |
参考文献 | 第52-53页 |
5 色散介质FDTD在PSTM成像模拟中的应用 | 第53-69页 |
·数值模拟所用模型 | 第53-54页 |
·Drude模型的引进 | 第53-54页 |
·计算所用物理模型和参数 | 第54页 |
·PSTM成像的二维FDTD数值模拟 | 第54-58页 |
·不镀膜光纤探针扫描成象分析 | 第55-56页 |
·带菱形金尖光纤探针扫描成象分析 | 第56-57页 |
·镀膜孔径光纤探针扫描成象分析 | 第57页 |
·全镀膜光纤探针扫描成象分析 | 第57-58页 |
·结论 | 第58页 |
·三维带金尖光纤探针PSTM扫描成像数值模拟 | 第58-62页 |
·物理模型和基本参数设定 | 第58-59页 |
·带金尖光纤探针与不带金尖光纤探针结果比较 | 第59-60页 |
·探针尖端金属颗粒大小对成像的影响 | 第60页 |
·光纤与样品间距的改变对成像的影响 | 第60-61页 |
·入射角对成像的影响 | 第61页 |
·不同类型尖端金属微粒成像结果的比较 | 第61-62页 |
·结果讨论 | 第62页 |
·镀银膜孔径探针PSTM扫描成像的三维数值模拟 | 第62-65页 |
·物理模型以及基本参数 | 第62-63页 |
·不同形状镀膜探针扫描成像结果比较 | 第63-64页 |
·光纤探针尖参数变化对成像的影响 | 第64页 |
·结果分析 | 第64-65页 |
·新型光纤尖扫描情况数值模拟 | 第65-68页 |
·物理模型和相关参数设定 | 第65-66页 |
·三种光纤探针扫描结果比较 | 第66页 |
·探针参数变化对成像的影响 | 第66-67页 |
·光纤内部等高线分布图 | 第67-68页 |
参考文献 | 第68-69页 |
结论 | 第69-71页 |
攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第71-72页 |
致谢 | 第72-73页 |
大连理工大学学位论文版权使用授权书 | 第73页 |