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基于FPGA的频率特性测试仪的研制

目录第1-6页
摘要第6-8页
ABSTRACT第8-10页
符号说明第10-11页
第一章 绪论第11-14页
 1.1 课题提出的背景第11-12页
 1.2 课题研究的意义第12-13页
 1.3 本论文的研究内容及目标第13-14页
第二章 ROM压缩技术及高速运算算法研究第14-26页
 2.1 DDS系统的杂散分析第14-19页
  2.1.1 理想DDS的频谱分析第14-15页
  2.1.2 杂散来源及改善杂散的方法第15-16页
  2.1.3 ROM压缩方法第16-18页
  2.1.4 本课题采用的减小杂散的方法第18-19页
 2.2 流水线技术第19-23页
  2.2.1 流水线加法器第19-21页
  2.2.2 基于流水线结构的累加器第21-22页
  2.2.3 改进的流水线结构第22-23页
 2.3 高速除法运算方法研究第23-26页
  2.3.1 除法运算的硬件实现第23页
  2.3.2 BCD码除法运算原理第23-24页
  2.3.3 高速循环运算方法第24-26页
第三章 频率特性测试仪的设计第26-39页
 3.1 技术指标第26页
 3.2 频率特性测试仪的总体设计方案第26-29页
  3.2.1 频率特性测试仪的结构第26-27页
  3.2.2 器件、工具和语言的选择第27-29页
 3.3 微处理器电路第29-34页
  3.3.1 键盘控制模块第29-31页
  3.3.2 FPGA下载配置模块第31-33页
  3.3.3 FPGA接口模块第33-34页
 3.4 FPGA电路第34-35页
 3.5 外围电路第35-39页
  3.5.1 信号调理电路第35-37页
  3.5.2 幅度测量电路第37-39页
第四章 基于DDS的扫频信号发生器的设计第39-57页
 4.1 扫频信号发生器的总体设计第39-42页
  4.1.1 DDS扫频信号发生器的原理第39-40页
  4.1.2 扫频信号发生器的频率特征量第40-41页
  4.1.3 扫频信号发生器的结构第41-42页
 4.2 数据接收模块的设计第42-44页
 4.3 频率-相位累加器的设计第44-48页
  4.3.1 频率-相位累加器的结构第44-45页
  4.3.2 频率累加器模块第45-47页
  4.3.3 相位累加器第47-48页
 4.4 相位幅度转换模块的设计第48-52页
  4.4.1 相位幅度转换的总体设计第48-49页
  4.4.2 地址转换器第49-50页
  4.4.3 ROM查找表的设计第50-51页
  4.4.4 数据转换器第51-52页
 4.5 控制模块的设计第52-55页
 4.6 扫频信号发生器的设计验证第55-57页
第五章 频率特性测试模块设计第57-64页
 5.1 频率特性测试原理第57-58页
 5.2 BCD码除法模块的设计实现第58-61页
 5.3 频率特性测试模块的设计第61-64页
第六章 结语第64-65页
附录1 原理图第65-68页
附录2 仿真波形图第68-72页
参考文献第72-75页
致谢第75-76页
攻读硕士研究生期间发表的学术论文第76-77页
学位论文评阅及答辩情况表第77页

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