FPGA的边界扫描测试方法研究
| 第1章 绪论 | 第1-19页 |
| ·概述 | 第9-12页 |
| ·可编程ASIC及其特点 | 第9-11页 |
| ·现场可编程门阵列FPGA | 第11-12页 |
| ·数字系统故障诊断技术的研究动态 | 第12-14页 |
| ·FPGA器件测试技术的发展现状 | 第14-16页 |
| ·课题的提出及本文的主要工作 | 第16-18页 |
| ·课题提出的背景及意义 | 第16-17页 |
| ·本文主要工作 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第2章 FPBA结构特点及典型的故障模型 | 第19-27页 |
| ·FPGA的结构及特点 | 第19-23页 |
| ·FPGA的结构特点 | 第19-21页 |
| ·FPGA发展趋势 | 第21-23页 |
| ·FPGA中典型的故障模型 | 第23-25页 |
| ·固定型故障 | 第23-24页 |
| ·桥接故障 | 第24页 |
| ·暂态故障 | 第24-25页 |
| ·时滞故障 | 第25页 |
| ·本章小结 | 第25-27页 |
| 第3章 边界扫描测试基本理论与方法 | 第27-37页 |
| ·边界扫描技术概述 | 第27-30页 |
| ·边界扫描技术简介 | 第27-28页 |
| ·边界扫描测试技术的应用现状 | 第28-29页 |
| ·边界扫描测试技术理论与方法研究现状 | 第29-30页 |
| ·边界扫描测试相关理论 | 第30-36页 |
| ·相关技术概念 | 第30-32页 |
| ·边界扫描板级测试过程数学描述 | 第32-36页 |
| ·本章小结 | 第36-37页 |
| 第4章 边界扫描测试优化生成算法 | 第37-58页 |
| ·测试优化问题概述 | 第37-46页 |
| ·故障检测与紧凑性问题 | 第38-39页 |
| ·故障诊断的完备性问题 | 第39-45页 |
| ·测试向量集的构成策略 | 第45-46页 |
| ·抗误判优化算法 | 第46-51页 |
| ·现有算法性能分析 | 第47-48页 |
| ·抗误判定理 | 第48-49页 |
| ·抗误判算法的改进 | 第49-51页 |
| ·极小权值优化算法 | 第51-56页 |
| ·极小权值算法主要思想 | 第52-53页 |
| ·极小权值算法性能分析 | 第53-54页 |
| ·极小权值算法的改进 | 第54-56页 |
| ·改进前后算法的比较分析 | 第56页 |
| ·本章小结 | 第56-58页 |
| 第5章 应用边界扫描测试结构实现FPGA测试 | 第58-68页 |
| ·被测电路的BIST插入 | 第58-61页 |
| ·BIST结构 | 第58-59页 |
| ·VHDL描述及仿真 | 第59-61页 |
| ·FPGA中边界扫描的应用 | 第61-65页 |
| ·边界扫描逻辑 | 第61-62页 |
| ·BIST内核下边界扫描逻辑的使用 | 第62-63页 |
| ·边界扫描与BIST内核的连接 | 第63-65页 |
| ·FPGA测试的实现 | 第65页 |
| ·边界扫描测试的运行 | 第65-67页 |
| ·本章小结 | 第67-68页 |
| 结论 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 攻读硕士学位期间所发表的论文和取得的科研成果 | 第72-73页 |
| 致谢 | 第73页 |
