| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 注释表——符号定义 | 第10-13页 |
| 1 绪论 | 第13-33页 |
| ·悬浮颗粒基本概念 | 第13-17页 |
| ·悬浮颗粒质量测量的基本方法和特点 | 第17-22页 |
| ·直接测量法 | 第18页 |
| ·间接测量法 | 第18-22页 |
| ·光散射计数法反演颗粒质量的研究现状 | 第22-31页 |
| ·光散射计数法反演颗粒质量浓度的发展状况 | 第22-25页 |
| ·光散射计数法反演颗粒质量分布的理论研究状况 | 第25-29页 |
| ·光散射计数法反演颗粒质量的理论缺陷 | 第29-31页 |
| ·本文工作 | 第31-33页 |
| 2 物理测量过程中的信息空间变换 | 第33-49页 |
| ·信息论基础简介 | 第33-37页 |
| ·一般测量过程的信息特性 | 第37-40页 |
| ·测量过程的信息论形式 | 第40-44页 |
| ·物理测量过程与信息空间变换 | 第44-47页 |
| ·测量信息空间 | 第44-46页 |
| ·测量结果信息熵的线性迭加 | 第46-47页 |
| ·本章小结 | 第47-49页 |
| 3 悬浮颗粒数的质量分布信息模型 | 第49-61页 |
| ·悬浮颗粒数的质量分布特征及测量理论 | 第49-57页 |
| ·颗粒形貌物理特征及描述形式 | 第49-50页 |
| ·颗粒样品集合概念 | 第50-51页 |
| ·颗粒群特征参数计数分布函数 | 第51-53页 |
| ·悬浮颗粒计数信号等效体积的分形测度 | 第53-56页 |
| ·悬浮颗粒计数信号等效体积分形测度的测量意义 | 第56-57页 |
| ·光散射法悬浮颗粒数的质量分布信息模型 | 第57-60页 |
| ·悬浮颗粒数的质量分布信息及度量 | 第57-58页 |
| ·颗粒数质量分布特征量与信息空间基矢量 | 第58-60页 |
| ·本章小结 | 第60-61页 |
| 4 悬浮颗粒数的散射光强分布信息模型 | 第61-77页 |
| ·悬浮颗粒数散射光幅度分布测量系统 | 第61-68页 |
| ·悬浮颗粒数散射光幅度分布测量系统的光学原理 | 第61-63页 |
| ·悬浮颗粒数散射光幅度分布测量系统的基本结构 | 第63-64页 |
| ·悬浮颗粒数散射光幅度分布特征 | 第64-68页 |
| ·悬浮颗粒数的散射光强分布信息模型 | 第68-71页 |
| ·悬浮颗粒数散射光幅度分布的信息及度量 | 第68-70页 |
| ·粒子计数器悬浮颗粒质量测量系统的信息传递 | 第70-71页 |
| ·颗粒散射光幅度分布特征参数"光散射等效截面维数" | 第71-76页 |
| ·光散射计数法颗粒群质量测量的数学模型 | 第71-75页 |
| ·光散射等效截面分形维数的信息分解 | 第75-76页 |
| ·本章小结 | 第76-77页 |
| 5 悬浮颗粒数质量分布信息模型的应用 | 第77-95页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息反演颗粒质量浓度 | 第77-79页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息反演颗粒质量分布 | 第79-82页 |
| ·散射光幅度分布信息反演颗粒质量分布的计算模型 | 第79-80页 |
| ·二元概率分布与颗粒散射光测量过程信息熵 | 第80-82页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵与颗粒测量系统参数优化设计 | 第82-91页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵与通道划分 | 第82-83页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵与颗粒质量浓度反演精度 | 第83-88页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵与测量系统标定特征参数 | 第88-90页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵与颗粒质量分布反演精度 | 第90-91页 |
| ·颗粒数散射光幅度分布信息熵的应用意义 | 第91-94页 |
| ·采样浓度的信息熵确定法 | 第91-92页 |
| ·信息熵评价法 | 第92-94页 |
| ·本章小结 | 第94-95页 |
| 6 总结与展望 | 第95-97页 |
| ·论文总结 | 第95-96页 |
| ·创新点总结 | 第96页 |
| ·展望 | 第96-97页 |
| 致谢 | 第97-99页 |
| 参考文献 | 第99-109页 |
| 附录 | 第109页 |
