| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 第1章 绪论 | 第9-13页 |
| ·课题来源及研究的目的和意义 | 第9页 |
| ·国内外在该方向的研究现状及发展趋势 | 第9-11页 |
| ·国外研究现状 | 第10页 |
| ·国内研究现状 | 第10-11页 |
| ·本课题研究主要内容 | 第11-13页 |
| 第2章 FPGA结构及功能模块测试 | 第13-26页 |
| ·Virtex系列FPGA结构 | 第13-17页 |
| ·FPGA的典型故障模型及测试方法 | 第17-19页 |
| ·FPGA的典型故障模型 | 第17-18页 |
| ·FPGA的测试方法 | 第18-19页 |
| ·可编程逻辑模块(CLB)的测试 | 第19-25页 |
| ·查找表(LUT)的测试 | 第19-21页 |
| ·进位逻辑模块的测试 | 第21-23页 |
| ·函数发生器RAM模式的测试 | 第23-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第3章 可编程互连资源的结构及测试方法概述 | 第26-38页 |
| ·可编程互连资源故障模型 | 第26页 |
| ·XC4000 可编程互连资源测试方法概述 | 第26-33页 |
| ·XC4000 互连资源架构 | 第27-29页 |
| ·XC4000 系列互连测试方法 | 第29-31页 |
| ·XC4000 系列互连故障诊断方法 | 第31-33页 |
| ·Virtex系列可编程互连资源架构及测试方法分析 | 第33-37页 |
| ·Virtex系列可编程互连资源 | 第33-35页 |
| ·Virtex系列互连测试方法 | 第35-37页 |
| ·本章小结 | 第37-38页 |
| 第4章 可编程互连资源的测试 | 第38-54页 |
| ·可编程互连资源的BIST测试概述 | 第39-40页 |
| ·构建互连BIST的子模块 | 第40-42页 |
| ·构建TPG模块 | 第40-41页 |
| ·构建基于比较的ORA模块 | 第41-42页 |
| ·通用布线资源测试实现 | 第42-50页 |
| ·Hex线测试 | 第42-43页 |
| ·单长线测试 | 第43页 |
| ·Switch-box PIPs 测试 | 第43-47页 |
| ·MUX PIPs测试 | 第47-50页 |
| ·可编程互连资源的诊断方法研究 | 第50-53页 |
| ·粗颗粒诊断 | 第50-51页 |
| ·细颗粒诊断 | 第51-53页 |
| ·本章小结 | 第53-54页 |
| 第5章 FPGA芯片实测 | 第54-62页 |
| ·测试方法分析 | 第54-55页 |
| ·测试环境 | 第55-57页 |
| ·测试系统介绍 | 第55-56页 |
| ·测试接口板 | 第56-57页 |
| ·测试实现 | 第57-60页 |
| ·芯片配置过程 | 第57-58页 |
| ·测试设计流程 | 第58-60页 |
| ·芯片测试 | 第60页 |
| ·本章小结 | 第60-62页 |
| 结论 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-68页 |
| 致谢 | 第68页 |