| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-22页 |
| ·等离子体概述 | 第9页 |
| ·气体放电概述及分类 | 第9-12页 |
| ·弧光放电 | 第10-11页 |
| ·电晕放电 | 第11页 |
| ·火花放电 | 第11页 |
| ·表面放电 | 第11-12页 |
| ·介质阻挡放电 | 第12页 |
| ·介质阻挡放电概述 | 第12-18页 |
| ·介质阻挡放电的概念 | 第12-13页 |
| ·介质阻挡放电的研究概状及其应用 | 第13-18页 |
| ·DBD及活性自由基的重要性及其诊断特点 | 第18-19页 |
| ·等离子体中活性物种的诊断方法 | 第19-21页 |
| ·光谱诊断方法 | 第19-20页 |
| ·质谱诊断方法 | 第20-21页 |
| ·本文选题意义 | 第21-22页 |
| 2 实验装置和实验方法 | 第22-26页 |
| ·针-板式介质阻挡放电的实验装置 | 第22-26页 |
| ·脉冲电源 | 第22-24页 |
| ·反应器以及电极结构 | 第24页 |
| ·光谱测量系统 | 第24-25页 |
| ·配气系统 | 第25-26页 |
| 3 双向窄脉冲针-板式介质阻挡放电中OH和N_2~+发射光谱测量 | 第26-33页 |
| ·介质阻挡放电中发射光谱的测量 | 第26-27页 |
| ·N_2(C)的相对振动布居和振动温度 | 第27-29页 |
| ·OH(A~2∑→X~2Π,0-0),N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度的实验研究 | 第29-33页 |
| ·放电电压对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度影响 | 第30-31页 |
| ·放电频率对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度影响 | 第31-33页 |
| 4 气体添加对双向窄脉冲介质阻挡放电中OH(A~2∑→X~2Π,0-0),N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度和N_2(C)的振动温度影响 | 第33-41页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加O_2对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度的影响 | 第33-35页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加O_2对N_2(C)振动温度的影响 | 第35-37页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加Ar对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度的影响 | 第37-38页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加Ar对N_2(C)振动温度的影响 | 第38页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加He对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度的影响 | 第38-40页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中添加He对N_2(C)振动温度的影响 | 第40-41页 |
| 5 双向窄脉冲介质阻挡放电中水蒸气温度对OH(A~2∑→X~2Π,0-0),N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度和N_2(C)的振动温度影响 | 第41-44页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中水蒸气温度对OH(A~2∑→X~2Π,0-0)和N_2~+(B~2∑_u~+→X~2∑_g~+,0-0)发射光谱强度的影响 | 第41-43页 |
| ·双向窄脉冲介质阻挡放电中水蒸气温度对N_2(C)振动温度的影响 | 第43-44页 |
| 6 大气压下N_2/H_2O介质阻挡放电对有害气体脱除的应用 | 第44-49页 |
| ·实验介绍 | 第44-47页 |
| ·实验设备 | 第44-46页 |
| ·实验方法 | 第46-47页 |
| ·实验结果与讨论 | 第47-49页 |
| 结论 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-56页 |
