摘要 | 第1-4页 |
Abstract | 第4-7页 |
第一章 绪论 | 第7-11页 |
·研究背景 | 第7-8页 |
·DC/DC 转换器及SBD 的空间应用可靠性问题 | 第7页 |
·预兆单元研究的意义 | 第7-8页 |
·预兆单元研究现状 | 第8-10页 |
·研究现状 | 第8-9页 |
·技术实现难点 | 第9-10页 |
·论文主要工作和结构 | 第10-11页 |
第二章 损伤预测模型的建立 | 第11-39页 |
·SBD 整流二极管和DC/DC 转换器 | 第11-15页 |
·SBD 器件的辐射损伤研究 | 第15-24页 |
·肖特基二极管界面态理论 | 第15-17页 |
·肖特基二极管辐射损伤微观机制 | 第17-19页 |
·辐射敏感参数分析 | 第19-24页 |
·辐射失效机理分析 | 第24-27页 |
·DC/DC 转换器的辐射效应 | 第24-25页 |
·基于SBD 的DC/DC 转换器辐射损伤分析 | 第25-27页 |
·SBD 辐射损伤与1/f 噪声 | 第27-31页 |
·1/f 噪声基础 | 第27-28页 |
·肖特基二极管的1/f 噪声 | 第28-30页 |
·1/f 噪声表征SBD 器件的辐射损伤 | 第30-31页 |
·基于SBD 的DC/DC 转换器辐射损伤预测模型 | 第31-36页 |
·基于SBD 的DC/DC 转换器辐射可靠性保障 | 第31页 |
·基于电学参数的损伤预测模型 | 第31-34页 |
·基于SBD 器件噪声的DC/DC 转换器抗辐射评价模型 | 第34-36页 |
·本章小结 | 第36-39页 |
第三章 辐照实验及损伤预测模型验证 | 第39-49页 |
·辐照实验 | 第39-40页 |
·实验样品及辐照实验 | 第39页 |
·辐照实验测试 | 第39-40页 |
·辐照实验结果与分析 | 第40-44页 |
·I-V 特性及电学参数的变化 | 第40-43页 |
·低频噪声特性的变化 | 第43-44页 |
·基于电学参数的损伤预测模型验证 | 第44-46页 |
·噪声可靠性评价模型验证 | 第46-47页 |
·本章小结 | 第47-49页 |
第四章 预兆单元的设计和研制 | 第49-65页 |
·预兆单元概述 | 第49-50页 |
·预兆单元设计思路 | 第50-51页 |
·预兆单元设计 | 第51-60页 |
·功能描述和设计要求 | 第51-52页 |
·电路设计和版图设计 | 第52-55页 |
·辐射加固设计 | 第55-60页 |
·预兆单元实验验证 | 第60-63页 |
·本章小结 | 第63-65页 |
第五章 结论与展望 | 第65-67页 |
·主要研究工作及结论 | 第65页 |
·展望 | 第65-67页 |
致谢 | 第67-69页 |
参考文献 | 第69-73页 |
在校期间研究成果 | 第73-74页 |