| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 1 绪论 | 第9-12页 |
| 1.1 课题背景及关键技术 | 第9页 |
| 1.2 商用器件国内外发展现状 | 第9-10页 |
| 1.3 本文主要内容及结构安排 | 第10-12页 |
| 2 商用器件应用于空间环境的可靠性研究 | 第12-22页 |
| 2.1 商用塑封器件特点 | 第12-13页 |
| 2.2 筛选试验 | 第13-17页 |
| 2.3 鉴定试验 | 第17-20页 |
| 2.4 DPA试验 | 第20-21页 |
| 2.5 本章小结 | 第21-22页 |
| 3 空间辐射环境及其对商用器件的辐照影响分析 | 第22-34页 |
| 3.1 空间辐射环境 | 第22-23页 |
| 3.1.1 空间辐射环境分析 | 第22页 |
| 3.1.2 卫星轨道与空间辐射剂量值 | 第22-23页 |
| 3.2 SRAM型FPGA的辐照影响分析 | 第23-29页 |
| 3.2.1 SRAM型FPGA总剂量效应 | 第23-25页 |
| 3.2.2 SRAM型FPGA单粒子效应 | 第25-26页 |
| 3.2.3 XilinxSRAM型FPGA辐照影响分析 | 第26-29页 |
| 3.3 AD/DA的辐照影响分析 | 第29-31页 |
| 3.4 DC/DC的辐照影响分析 | 第31-32页 |
| 3.5 本章小结 | 第32-34页 |
| 4 星载处理机商用器件抗辐照实验设计 | 第34-44页 |
| 4.1 总剂量效应实验设计 | 第34-42页 |
| 4.1.1 SRAM型FPGA总剂量效应实验设计 | 第34-38页 |
| 4.1.2 DC/DC总剂量效应实验设计 | 第38-39页 |
| 4.1.3 高速ADC总剂量效应实验设计 | 第39-40页 |
| 4.1.4 高速DAC总剂量效应实验设计 | 第40-42页 |
| 4.2 单粒子效应实验设计 | 第42-43页 |
| 4.2.1 FPGA单粒子翻转实验设计 | 第42-43页 |
| 4.2.2 FPGA防单粒子闩锁设计 | 第43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 5 星载处理机抗辐照测试系统设计及测试 | 第44-71页 |
| 5.1 抗辐照测试系统设计的目的和意义 | 第44页 |
| 5.2 抗辐照测试电路设计与实现 | 第44-62页 |
| 5.2.0 关键器件选型 | 第44-46页 |
| 5.2.1 总体硬件结构设计 | 第46-48页 |
| 5.2.2 电源模块 | 第48-49页 |
| 5.2.3 时钟和复位模块 | 第49-52页 |
| 5.2.4 测试控制CPLD模块 | 第52-54页 |
| 5.2.5 功能测试DSP模块 | 第54-55页 |
| 5.2.6 电压电流监测模块 | 第55-57页 |
| 5.2.7 RS422通信模块 | 第57-58页 |
| 5.2.8 模数转换模块 | 第58-60页 |
| 5.2.9 FLASH接口模块 | 第60-61页 |
| 5.2.10 PCB硬件设计与实现 | 第61-62页 |
| 5.3 硬件测试 | 第62-63页 |
| 5.4 功能测试 | 第63-66页 |
| 5.4.1 电源模块 | 第63-64页 |
| 5.4.2 测试控制CPLD模块 | 第64-65页 |
| 5.4.3 功能测试DSP模块 | 第65页 |
| 5.4.4 电压电流监测模块 | 第65-66页 |
| 5.4.5 RS422通信模块 | 第66页 |
| 5.5 性能测试 | 第66-67页 |
| 5.6 抗辐照测试系统软件设计 | 第67-69页 |
| 5.7 本章小结 | 第69-71页 |
| 6 FPGA的单粒子SEU防护设计 | 第71-79页 |
| 6.1 引言 | 第71页 |
| 6.2 多相结构的下变频模块 | 第71-73页 |
| 6.3 SEU防护设计 | 第73-77页 |
| 6.3.1 FIR滤波器三模冗余容错设计 | 第73页 |
| 6.3.2 多相结构的双备份冗余和并发错误检测相结合容错设计 | 第73-77页 |
| 6.4 仿真结果及分析 | 第77-78页 |
| 6.5 本章小结 | 第78-79页 |
| 7 总结与展望 | 第79-80页 |
| 7.1 课题总结 | 第79页 |
| 7.2 课题展望 | 第79-80页 |
| 结论 | 第80-81页 |
| 参考文献 | 第81-84页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第84-85页 |
| 致谢 | 第85页 |