射频放大器可靠性测试系统的开发与验证
| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6页 |
| 第1章 引言 | 第10-13页 |
| 1.1 研究背景与选题 | 第10页 |
| 1.2 研究内容和意义 | 第10-12页 |
| 1.3 章节概述 | 第12-13页 |
| 第2章 放大器测试原理 | 第13-20页 |
| 2.1 射频放大器介绍 | 第13页 |
| 2.2 射频放大器测试关键指标 | 第13-17页 |
| 2.2.1 增益 | 第13-14页 |
| 2.2.2 线性度 | 第14-15页 |
| 2.2.3 效率 | 第15页 |
| 2.2.4 失真 | 第15-16页 |
| 2.2.5 噪声系数 | 第16-17页 |
| 2.3 可靠性测试原理 | 第17-19页 |
| 2.3.1 射频放大器的高低温试验 | 第18页 |
| 2.3.2 射频放大器的高温老炼试验 | 第18-19页 |
| 2.4 本章小结 | 第19-20页 |
| 第3章 ATE系统测试原理介绍 | 第20-29页 |
| 3.1 测试用仪器介绍 | 第20-26页 |
| 3.1.1 直流电源 | 第20页 |
| 3.1.2 信号发生器 | 第20-21页 |
| 3.1.3 频谱仪 | 第21-22页 |
| 3.1.4 噪声系数分析仪 | 第22-25页 |
| 3.1.5 数字万用表 | 第25-26页 |
| 3.2 测试参数介绍 | 第26-28页 |
| 3.2.1 增益特性测量 | 第26页 |
| 3.2.2 噪声特性测量 | 第26-27页 |
| 3.2.3 三阶交调测量 | 第27-28页 |
| 3.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第4章 自动化测试系统设计 | 第29-49页 |
| 4.1 可靠性测试方案 | 第29-30页 |
| 4.1.1 高低温测试方案 | 第29页 |
| 4.1.2 老炼测试方案 | 第29-30页 |
| 4.2 硬件系统 | 第30-38页 |
| 4.2.1 测试系统组成 | 第30页 |
| 4.2.2 PC | 第30页 |
| 4.2.3 信号控制模块 | 第30-32页 |
| 4.2.4 通信总线 | 第32-33页 |
| 4.2.5 供电模块 | 第33-34页 |
| 4.2.6 单片机 | 第34-36页 |
| 4.2.7 采样电阻电路 | 第36-37页 |
| 4.2.8 测试仪器 | 第37页 |
| 4.2.9 高低温箱 | 第37-38页 |
| 4.3 软件 | 第38-47页 |
| 4.3.1 开发环境 | 第39-40页 |
| 4.3.2 虚拟仪器技术 | 第40-41页 |
| 4.3.3 SCPI指令集 | 第41-42页 |
| 4.3.4 仪器驱动类库 | 第42-43页 |
| 4.3.5 用户界面及后台逻辑 | 第43-46页 |
| 4.3.6 数据存储 | 第46-47页 |
| 4.4 本章小结 | 第47-49页 |
| 第5章 数据处理和结果分析 | 第49-63页 |
| 5.1 数据误差处理 | 第49-54页 |
| 5.1.1 数据误差分析 | 第49-50页 |
| 5.1.2 基于局部异常因子的数据清洗 | 第50-51页 |
| 5.1.3 平均值迭代法计算 | 第51-53页 |
| 5.1.4 算法效果分析 | 第53-54页 |
| 5.2 系统测试结果 | 第54-59页 |
| 5.2.1 高温老炼实验 | 第54-57页 |
| 5.2.2 高低温试验 | 第57-59页 |
| 5.3 可靠性测试系统效率分析 | 第59-62页 |
| 5.3.1 时间和数据量比较 | 第59-60页 |
| 5.3.2 精度比较 | 第60-62页 |
| 5.4 本章小结 | 第62-63页 |
| 第6章 总结与展望 | 第63-65页 |
| 6.1 总结 | 第63页 |
| 6.2 展望 | 第63-65页 |
| 参考文献 | 第65-70页 |
| 科研成果 | 第70-71页 |
| 作者简介 | 第71页 |
