致谢 | 第1-5页 |
摘要 | 第5-6页 |
Abstract | 第6-10页 |
第一章 绪论 | 第10-32页 |
·有机半导体材料 | 第10-12页 |
·有机半导体材料的发现及应用 | 第10-11页 |
·施主-受主型共轭导电聚合物 | 第11-12页 |
·有机半导体中载流子注入与传输 | 第12-18页 |
·载流子的注入 | 第12-14页 |
·载流子的传输 | 第14-18页 |
·有机场效应晶体管 | 第18-23页 |
·有机场效应晶体管的发展 | 第18-19页 |
·有机场效应晶体管的结构 | 第19-20页 |
·有机场效应晶体管的基本工作原理 | 第20-22页 |
·有机场效应晶体管的应用 | 第22-23页 |
·有机负电阻器件 | 第23-29页 |
·负电阻效应 | 第23-24页 |
·有机材料中的负电阻效应 | 第24-26页 |
·有机材料中负电阻现象形成的解释和推论 | 第26-28页 |
·有机负电阻效应的应用前景 | 第28-29页 |
·课题的提出与意义 | 第29-32页 |
第二章 基于施主-受主型共轭聚合物的薄膜场效应晶体管 | 第32-56页 |
·实验部分 | 第32-35页 |
·实验试剂及材料 | 第32页 |
·实验仪器 | 第32-33页 |
·有机薄膜晶体管器件制备 | 第33-35页 |
·电学性能测试 | 第35页 |
·分析模型 | 第35-38页 |
·参数分析方法 | 第35-36页 |
·改进后参数提取方法 | 第36-38页 |
·结果与讨论 | 第38-46页 |
·电学性能分析 | 第38-41页 |
·阈值电压 | 第41-42页 |
·接触电阻 | 第42-45页 |
·迁移率的栅压依赖性 | 第45-46页 |
·退火处理对器件性能的影响 | 第46-53页 |
·退火后薄膜性能的表征 | 第46-49页 |
·退火后器件性能研究 | 第49-53页 |
·陷阱对栅压应变效应的影响 | 第53页 |
·本章小结 | 第53-56页 |
第三章 基于施主-受主共轭聚合物薄膜的负电阻器件 | 第56-76页 |
·实验部分 | 第56-59页 |
·实验试剂及材料 | 第56-57页 |
·实验仪器 | 第57页 |
·有机薄膜器件制备 | 第57-58页 |
·器件的测试 | 第58-59页 |
·结果与讨论 | 第59-66页 |
·单极扫描结果分析 | 第59-61页 |
·双极扫描结果分析 | 第61-63页 |
·偶极矩微扰下的细丝传导模式 | 第63-66页 |
·电极阻挡层的作用 | 第64-65页 |
·器件有机活性层的作用 | 第65-66页 |
·影响器件性能的各种因素 | 第66-75页 |
·有机薄膜厚度对器件性能影响 | 第66-68页 |
·测试扫描速率对器件性能影响 | 第68-69页 |
·空气对器件性能影响 | 第69-70页 |
·器件性能随时间的变化 | 第70-71页 |
·退火处理对器件性能影响 | 第71-75页 |
·本章小结 | 第75-76页 |
第四章 主要结论与创新点 | 第76-78页 |
参考文献 | 第78-90页 |
作者简介 | 第90页 |
攻读硕士学位期间发表的论文 | 第90页 |