电液制动系统控制器的硬件驱动模块设计
| 摘要 | 第6-8页 |
| ABSTRACT | 第8-9页 |
| 第一章 绪论 | 第12-21页 |
| 1.1 课题研究背景和意义 | 第12页 |
| 1.2 电子液压制动系统研究现状 | 第12-17页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3 驱动电路的研究现状 | 第17-19页 |
| 1.4 本文技术路线及主要内容安排 | 第19-21页 |
| 1.4.1 技术路线 | 第19-20页 |
| 1.4.2 主要内容 | 第20-21页 |
| 第二章 电液制动系统控制器需求分析与方案设计 | 第21-34页 |
| 2.1 电液制动系统介绍 | 第21-23页 |
| 2.2 控制器设计需求分析 | 第23-26页 |
| 2.2.1 控制器基本参数规格 | 第23-24页 |
| 2.2.2 制动控制器的基本功能 | 第24-25页 |
| 2.2.3 控制器的硬件设计需求 | 第25-26页 |
| 2.3 驱动电路设计要求 | 第26-27页 |
| 2.4 控制器硬件方案设计 | 第27-33页 |
| 2.4.1 硬件方案总体设计 | 第27-28页 |
| 2.4.2 重要元器件选型分析 | 第28-33页 |
| 2.5 本章小结 | 第33-34页 |
| 第三章 驱动模块详细硬件设计 | 第34-56页 |
| 3.1 电路原理图设计 | 第34页 |
| 3.2 驱动模块硬件设计 | 第34-43页 |
| 3.2.1 预驱动器周边电路设计 | 第35-37页 |
| 3.2.2 驱动电路设计 | 第37-41页 |
| 3.2.3 保护电路设计 | 第41-43页 |
| 3.3 驱动模块周边电路设计 | 第43-48页 |
| 3.3.1 单电阻电流采样电路 | 第43-45页 |
| 3.3.2 NTC热敏电阻温度采样电路 | 第45-48页 |
| 3.4 驱动模块最差情况分析 | 第48-54页 |
| 3.4.1 预驱动器最差情况分析 | 第48-51页 |
| 3.4.2 关键元器件最差情况分析 | 第51-54页 |
| 3.5 印制电路板设计 | 第54-55页 |
| 3.6 本章小结 | 第55-56页 |
| 第四章 驱动电路的MOSFET损耗建模与热仿真 | 第56-73页 |
| 4.1 MOSFET开关过程分析 | 第56-57页 |
| 4.2 MOSFET功率损耗建模 | 第57-60页 |
| 4.2.1 MOSFET开关损耗建模 | 第58-59页 |
| 4.2.2 MOSFET导通损耗建模 | 第59-60页 |
| 4.3 MOSFET热传递分析 | 第60-64页 |
| 4.3.1 MOSFET的封装结构 | 第60-62页 |
| 4.3.2 MOSFET的传热过程 | 第62页 |
| 4.3.3 MOSFET等效热路模型 | 第62-64页 |
| 4.4 MOSFET热仿真及结果分析 | 第64-72页 |
| 4.4.1 Icepak热仿真软件 | 第64-65页 |
| 4.4.2 Icepak热仿真分析 | 第65-72页 |
| 4.5 本章小结 | 第72-73页 |
| 第五章 驱动电路实验测试 | 第73-83页 |
| 5.1 预驱电源网络信号质量测试 | 第73-75页 |
| 5.2 驱动电路逻辑测试 | 第75-76页 |
| 5.3 功率器件开通尖峰测试 | 第76-78页 |
| 5.4 MOSFET上下桥臂死区时间测试 | 第78-79页 |
| 5.5 热仿真实验测试 | 第79-81页 |
| 5.6 本章小结 | 第81-83页 |
| 第六章 总结与展望 | 第83-85页 |
| 6.1 全文总结 | 第83页 |
| 6.2 研究展望 | 第83-85页 |
| 参考文献 | 第85-89页 |
| 致谢 | 第89页 |
