高分辨率阵列感应仪器的有限元分析和应用研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-8页 |
| 致谢 | 第8-12页 |
| 1 绪论 | 第12-17页 |
| ·感应测井仪器的发展历史 | 第12-13页 |
| ·研究背景及意义 | 第13-14页 |
| ·本文主要研究的内容和方法 | 第14-15页 |
| ·高分辨率感应测井仪的结构和工作方式 | 第15-17页 |
| 2 感应测井数值模拟方法简介 | 第17-38页 |
| ·有限元素法 | 第17-24页 |
| ·有限元理论公式 | 第17-18页 |
| ·有限元素方法的基本步骤 | 第18-20页 |
| ·阵列感应的有限元实现 | 第20-24页 |
| ·数值模式匹配法 | 第24-29页 |
| ·有限元素法和数值模式匹配法的数据结果对比 | 第29-38页 |
| 3 感应测井测量原理和仪器刻度 | 第38-57页 |
| ·感应测井几何因子理论进展 | 第38-41页 |
| ·Doll几何因子 | 第38-39页 |
| ·Gianzero几何因子 | 第39-40页 |
| ·Born几何因子 | 第40-41页 |
| ·Moran几何因子 | 第41页 |
| ·修正几何因子 | 第41页 |
| ·感应测井的传播理论 | 第41-46页 |
| ·电场强度的波动方程 | 第42-43页 |
| ·方程的解 | 第43-44页 |
| ·接收线圈中的感应信号 | 第44-46页 |
| ·金属芯棒的影响 | 第46-52页 |
| ·刻度方法 | 第52-57页 |
| ·复合线圈系刻度原理 | 第52-54页 |
| ·刻度系数与刻度环几何因子 | 第54-56页 |
| ·刻度环参数的选择 | 第56-57页 |
| 4 井眼校正和趋肤效应校正 | 第57-62页 |
| ·井眼校正原理 | 第57-58页 |
| ·数据的采集 | 第57-58页 |
| ·数据查询的原理 | 第58页 |
| ·井眼校正图版 | 第58-60页 |
| ·趋肤效应机理 | 第60页 |
| ·趋肤效应校正图版 | 第60-62页 |
| 5 阵列感应测井的软件聚焦 | 第62-68页 |
| ·软件聚焦的基本原理 | 第62-64页 |
| ·软件聚焦流程 | 第64-66页 |
| ·软件聚焦数据结果 | 第66-68页 |
| 6 全文总结与展望 | 第68-69页 |
| 参考文献 | 第69-72页 |
| 作者简历 | 第72页 |
