| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 文献综述 | 第8-37页 |
| 1.1 植物表皮蜡质研究进展 | 第8-19页 |
| 1.2 小麦基因组研究现状 | 第19-24页 |
| 1.3 图位克隆技术在植物中的研究进展 | 第24-29页 |
| 1.4 比较基因组学研究在小麦基因定位和克隆中的应用 | 第29-34页 |
| 1.5 立题依据和研究内容 | 第34-37页 |
| 第二章 材料与方法 | 第37-50页 |
| 2.1 实验材料 | 第37页 |
| 2.2 实验方法 | 第37-50页 |
| 第三章 结果与分析 | 第50-81页 |
| 3.1 小麦表皮蜡质抑制基因Iw2的精细定位 | 第50-51页 |
| 3.2 小麦表皮蜡质抑制基因Iw2的物理图谱初构建与遗传图谱构建 | 第51-62页 |
| 3.3 表皮蜡质抑制基因Iw1的物理图谱初构建 | 第62-66页 |
| 3.4 基因Iw1和Iw2所在染色体区间的序列分析 | 第66-68页 |
| 3.5 表皮蜡质抑制基因Iw1的遗传连锁图谱加密 | 第68-69页 |
| 3.6 基因Iw1的高密度遗传连锁图谱与物理图谱的整合 | 第69-70页 |
| 3.7 Iw1和Iw2候选基因的预测分析 | 第70-76页 |
| 3.8 EMS诱变构建表皮蜡质的突变体库 | 第76-81页 |
| 第四章 讨论 | 第81-88页 |
| 4.1 普通小麦D基因组与B基因组的遗传多样性比较 | 第81页 |
| 4.2 小麦蜡质合成抑制基因Iw1和Iw2的比较定位 | 第81-83页 |
| 4.3 比较基因组学在小麦基因定位和克隆中的应用以及局限性 | 第83-86页 |
| 4.4 基因Iw1和Iw2所在染色体区段的序列比较分析 | 第86-88页 |
| 第五章 结论 | 第88-90页 |
| 参考文献 | 第90-112页 |
| 致谢 | 第112-114页 |
| 作者简历 | 第114页 |
